SPM Microscopia a Scansione di Sonda
La Microscopia a Scansione di Sonda (SPM) è stata la prima tecnologia che ha permesso l'osservazione diretta degli atomi. Ancora oggi è tra le tecniche di analisi superficiale più diffuse.
I Microscopi a Forza Atomica (AFM) e i Microscopi a Corrente di Tunnel (STM) sono strumenti essenziali per accurate misure topografiche tridimensionali su scale micrometriche e submicrometriche.
I Microscopi a Forza Atomica (AFM) e i Microscopi a Corrente di Tunnel (STM) sono strumenti essenziali per accurate misure topografiche tridimensionali su scale micrometriche e submicrometriche.
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