Misure di Spessore e Composizione dei Rivestimenti
Misure di Spessore e Composizione dei Rivestimenti
La tecnologia Fluorescenza a raggi X (XRF) misura lo spessore di rivestimenti e la composizione dei materiali nei processi industriali di galvanizzazione, anodizzazione, plating , electroplating.
Questi processi sono ampiamente utilizzati dalle industrie per il basso costo di produzione, la lunga durata, l’assenza di manutenzione e l’elevata resistenza alla corrosione.
La tecnica a fluorescenza di raggi X rende possibile la misura dello spessore di tutti gli elementi compresi fra Na e U, fino a quattro strati più la base e di analizzare la composizione dei bagni galvanici e delle leghe.
La tecnologia è conforme ai metodi misurazione ISO 3497, ASTM B568 e DIN 50987.
La tecnologia Fluorescenza a raggi X (XRF) misura lo spessore di rivestimenti e la composizione dei materiali nei processi industriali di galvanizzazione, anodizzazione, plating , electroplating.
Questi processi sono ampiamente utilizzati dalle industrie per il basso costo di produzione, la lunga durata, l’assenza di manutenzione e l’elevata resistenza alla corrosione.
La tecnica a fluorescenza di raggi X rende possibile la misura dello spessore di tutti gli elementi compresi fra Na e U, fino a quattro strati più la base e di analizzare la composizione dei bagni galvanici e delle leghe.
La tecnologia è conforme ai metodi misurazione ISO 3497, ASTM B568 e DIN 50987.
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