8-12 Settembre - Demo profilometro ottico non-contatto 3D Sensofar S Neox

Data di pubblicazione: 
Lunedì 01 Settembre 2014
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Dall'8 al 12 Settembre siamo impegnati in un roadshow per presentare il nuovo profilometro ottico 3D della Sensofar, l'S Neox: 2 tecniche in un solo strumento. Segna il nuovo stato dell'arte nella profilometria ottica, superando ogni altro strumento disponibile sul mercato.

Se siete interessati a partecipare o desiderate ricevere informazioni sullo strumento, contattate l'ing. Paolo Bariani ai seguenti riferimenti:

Il Sensofar S Neox in Pillole
  • 4 sorgenti LED indipendenti: blu, verde, rosso e bianco per poter campionare qualsiasi tipo di superficie: materiali fibrosi, pelle, carta, superfici ottiche, polimeriche, superfici con elevata rugosità, componenti metallici, ceramici, semiconduttori,...
  • Integrazione di riflettometria spettroscopica con microscopia in campo chiaro per misura guidata dal microscopio di film sottili fino a 10nm di spessore, fino a 10 strati
  • Massima fedeltà e saturazione del colore, pixel per pixel, senza interpolazione, grazie all'illuminazione con lunghezze d'onda diverse pulsate e sincronizzate
  • Confocal Mode: campionamento XY fino a 100nm, risoluzione laterale ottica fino a 140nm (criterio di Rayleigh), con ottica 150X
  • Confocal Mode: risoluzione verticale fino ad 1nm
  • Interferometria VSI e PSI. Risoluzione verticale fino a 0.01nm in modalità PSI grazie allo scanner piezo linearizzato
  • Linearità della scansione verticale: fino allo 0.03% grazie allo scanner piezo linearizzato

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