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CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova proprietà AFM: Microscopia a forza magnetica laterale
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2 rue de la Terre de Feu - 91940 LES ULIS- FRANCE.
Si tratta di un corso per utilizzatori di AFM e non, mirato a qualsiasi ricercatore o scienziato che voglia imparare la tecnologia AFM, o migliorare la propria conoscenza della tecnica.
Compilate il modulo per ottenere maggiori informazioni
CSInstruments ha annunciato una nuova caratteristica per il suo microscopio AFM NanoObserver: MLFM, Microscopia a forza magnetica laterale. L'MLFM permette agli utenti di applicare un campo magnetico durante le misurazioni. Questo campo magnetico può essere variato durante la scansione.
Video esplicativo della nuova funzionalità
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