Imaging AFM ad alta temperatura - Un video da RHK Technology

Martedì 31 Maggio 2016

Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine ha richiesto circa 7 minuti. Il ciclo di acquisizione è durato circa 24 ore. Il movimento del campione è bassissimo. I dati mostrati non sono stati sottoposti ad alcuna correzione del movimento, nè durante l'acquisizione, nè in fase di post-processing. Si tratta di dati grezzi!

I tecnici RHK hanno fatto un calcolo veloce, e sembra che lo spostamento a 500°C sia inferiore alla maggior parte dei sistemi AFM che lavorano a temperatura ambiente. In effetti lo spostamento è all'incirca dieci volte inferiore alla maggior parte dei sistemi a temperatura ambiente. Verso la fine del filmato è visibile un "salto" del campione, quando un tecnico RHK ha urtato accidentalmente il microscopio. È possibile vedere il cambiamento del campione, con varie particelle che si muovono in superficie. Se siete interessati all'imaging AFM ad alta temperatura, questo è probabilmente il miglior filmato di misura AFM a contatto ad alta temperatura mai realizzato.

RHK non ha voluto spingere la macchina al limite. Ha comunque effettuato una prova di imaging a 650°C per circa due ore. Anche in questo caso lo spostamento del campione era veramente minimo.