Schaefer e Asylum-Oxford Instruments all'StSPM19EV - 21-22 novembre 2019

Schaefer e Asylum-Oxford Instruments all'StSPM19EV  - 21-22 novembre 2019
Data di pubblicazione: 
Mercoledì 30 Ottobre 2019

Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società italiana di microscopia (SISM) in collaborazione con l’Istituto dei Materiali Nanostrutturati del CNR e con il Dipartimento di Scienze Biologiche e Geologiche (BiGea) dell’Università di Bologna.

L’evento si terrà dal 21 al 22 Novembre 2019 a Bologna presso l’ Area della Ricerca CNR ed è rivolto a tutti i professori, ricercatori, tecnici e studenti interessati alla microscopia SPM; lo scopo dell'evento è di far incontrare gli addetti ai lavori e far conoscere i progressi scientifici nelle loro attività realizzati attraverso le tecniche SPM.

Il programma scientifico alternerà sessioni su “Scienza dei materiali” e “Scienze della vita”, mettendo in evidenza il modo in cui SPM contribuisce a tali settori. Sono previste due lezioni didattiche per studenti di laurea / dottorato di ricerca, conformemente all’approccio educativo del seminario “Microscopia a scansione a scansione e spettroscopia per le scienze minerali, biologiche e dei materiali”

Il Dr Julien Lopez di Asylum Oxford terrà una presentazione dal titolo “NanomechPro™ Toolkit: Nanomechanical AFM Techniques for Diverse Materials” il 21 Novembre alle 17:40.

Prodotti correlati 

Microscopio STM/AFM Nano-Observer CSI Instruments
Microscopio STM/AFM con particolare focus su AFM conduttivo