Il Nanoinnovation 2023 è un punto di riferimento consolidato per la comunità delle nanotecnologie e delle relative applicazioni; offre uno spazio vitale per la condivisione di idee e l'interazione tra accademici, scienziati, ricercatori e professionisti di diversi settori.
...
scienza dei materiali
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di scienza dei materiali
Esplora l'offerta scientifica e tecnologica di SAIREM sulla lavorazione della ceramica.
Questo webinar sarà presentato da 3 partner di Sairem su 3 diversi argomenti. Ognuno di loro avrà 20 minuti per presentare il proprio lavoro, con una sessione di domande e risposte di...
Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023
Due orari disponibili
Scopri come il tuo vecchio AFM...
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.
Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie
In questo webinar, Digital Surg...
In questo webinar verranno mostrate alcune delle funzionalità disponibili nel software MountainsSpectral® (di Digital Surf). Il webinar è rivolto agli utenti del software, a chiunque lo stia provando e, più in generale, a chiunque lavori con dati provenienti da tecniche spettroscopiche o esegua...
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
È disponibile la linea Sensofar di teste di misura Integrabili
Sensofar Metrology, con più di 20 anni di esperienza nello sviluppo di sistemi di metrologia ottica di superficie, lancia una nuova linea di teste di misura integrabili a quattro...
Il microscopio digitale DMPX 8X ZOOM fornisce immagini di alta qualità a un prezzo accessibile con tutte le funzioni necessarie per misurazioni di precisione, acquisizione di immagini, documentazione e generazione di report tracciabili, caratteristiche richieste dalle...
Dal 4 al 9 ottobre 2021 a Milano si svolge l'evento più atteso dell'anno in Europa per l'industria manifatturiera!
Sensofar e Schaefer saranno presenti, con i profilometri ottici 3D di più recente produzione.
Tutti i visitatori del nostro stand...
Giovedì 3 giugno:
- Ore 10.00
- Ore 18:00
La produzione additiva è diventata, in tempi brevi, un processo consolidato in molte aree della produzione.
Le progettazioni complesse, con funzionalità migliorative, sono facilmente realizzate...
Sensofar ha sostanzialmente migliorato le prestazioni dello strumento S neox: il profilometro ottico top di gamma della Sensofar è ora ancor più performante per quanto riguarda i processi di automazione della misura e l'usabilità/maneggevolezza. Anche il pacchetto di convalida del sistema, che...
Date un'occhiata a questo case study:: "Reducing Friction for Efficient Motion of Sliding Surfaces by Laser Surface Texturing".
Di seguito riassumiamo gli argomenti principali di questo interessante articolo., invitandovi alla lettura del pezzo completo (vedi link qui sotto).
...
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Mercoledì 29 aprile 2020 dalle 10:00 alle 11:00
Al culmine di un incredibile mese con i webinar Sensofar sulla metrologia ottica 3D, ti invitiamo a partecipare alla Master Class sulle tecnologie Sensofar, in programma la prossima settimana!
Durante...
Mercoledì 8 aprile 2020 - dalle 10:00 alle 11:00
Presentato da: Carles Otero e Sandra de Pedro
Scopri il nuovo eccezionale profilometro...
Dimostrazioni pratiche del tabletop SEM Cube II in anteprima Europea.
Il Cube II è un SEM da banco dalle elevate prestazioni con un design elegante e compatto, semplice ed intuitivo, in grado di offrire ingrandimento X300K e 5nm di risoluzione (@30KV)....
I nuovi substrati:
- C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
- D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...
Sensofar Metrology ha annunciato una new entry nella sua gamma di sistemi per metrologia di superficie in 3D a non contatto: il "Five Axis". Il nuovo profilometro ottico 3D unisce un modulo rotazionale ad alta precisione e una piattaforma translazionale ad alta risoluzione,...
Schaefer è lieta di annunciare che dal 6 all'8 marzo prossimo sarà in italia Bryan Crawford, tecnico Nanomechanics, ingegnere specializzato in test sui materiali. Si tratta di un'ottima...
Quando: martedì 28 novembre 2017, ore 11 e ore 18
Schaefer Italia vi invita a partecipare al webinar riguardante il lancio della nuova versione, 6.4, del software SensoSCAN.
In questa versione sono diverse le novità, che riguardano queste sezioni: Ispezione...
Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.
Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio...
Schaefer South-East Europe Srl è lieta di annunciare lo svolgimento di un workshop sulla profilometria in 3D (Metrologia di Superficie in 3D), in collaborazione con Sensofar, che si terrà alla fine di Luglio a Rovigo, dal titolo "State of the art in...
Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...
Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese...
Sensofar ha messo a catalogo un nuovo sensore di superficie 3D ad alta velocità – il modello S onix. Il modello S onix è un nuovo e ultracompatto sistema di metrologia di superficie progettato appositamente per processi di misurazione in linea ad alta velocità, e per controlli...
Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...
Abbiamo messo in vendita la nostra unità demo dell'iNano Nanomechanics, a un prezzo molto vantaggioso. Se siete interessati a questa opportunità, potete ottenere ulteriori informazioni contattandoci qui.
Il nanoindentatore iNano™ è uno...
Schaefer sarà presente all'edizione 2016 del MECSPE a Parma.
Nell'ambito delle nanotecnologie l'Ing Paolo Bariani di Schaefer terrà due presentazioni. Date e orari sono riportati in fondo a questa news.
La prima presentazione sarà Giovedì 17 e riguarderà la nanoindentazione...
Grandi novità da Sensofar, produttore leader nell'ambito della strumentazione per la metrologia ottica. È stata da poco annunciata dalla casa spagnola l'uscita di un nuovo profilometro ottico 3D, il modello S Lynx. Questo strumento è il risultato di 14 anni di...
Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Siamo lieti di annunciare che il vincitore del premio Robert W. Cahn (riconoscimento organizzato dal Journal of Materials Science) come miglior pubblicazione del 2014, va al paper Mechanical...