L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di spettroscopia a effetto tunnel
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
Galaxy Dual AFM Controller
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
Segui Euro 2016 con CSI e vinci!
Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
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Schaefer e il tem di RHK Technology sono felici di annunciare il lancio della nuovo PanScan Freedom System a 9K! I clienti ora potranno scegliere tra la versione a 15K e a 9K dei sistemi SPM senza liquido criogenico.
RHK Technology è leader della tecnologia della Microscopia a Scansione di Sonda fin dall'introduzione del suo primo sistema di controllo STM, nel 1988. Centinaia di gruppi di ricerca nel mondo si affidano ai prodotti innovativi di RHK per raggiungere i propri...
Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti
PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...
