Cypher ES Polymer Edition è una configurazione speciale di Cypher ES AFM per dare il massimo nella ricerca scientifica sui polimeri. Condivide le stesse prestazioni e...
Caratterizzazione dei Materiali Polimerici
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Cypher ES Polymer Edition AFM
Produttore:Categoria:Applicazioni:
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Cypher VRS Video-Rate AFM
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Cypher VRS AFM è il primo e unico AFM con funzionalità video complete. Finalmente i ricercatori possono misurare i processi dinamici su scala nanometrica a velocità video, ...
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Cypher ES Environmental AFM
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L'Asylum Research Cypher ES si basa sulle prestazioni eccezionali del modello Cypher S, al quale aggiunge la possibilità di un totale controllo dell'ambiente di sperimentazione. Alta risoluzione, velocità e stabilità sono mantenute allo stello livello, altissimo, dell'S, pur operando in ambienti...
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Cypher S AFM Microscope
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Il Cypher S di Asylum Research è stato il primo modello ad alta velocità di scansione della famiglia Cypher a essere stato messo in commercio; gli AFM Cypher sono gli unici microscopi AFM compatibili con un range completo di modalità e accessori. Gli AFM Cypher hanno anche un'...
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Profilm3D
Produttore:Categoria:Applicazioni:
Non perdete l'opportunità di fornirvi di un profilometro ottico per la metà del costo di un AFM o di un profilometro a stilo 3D! Il modello Profilm3D usa la modernissima tecnica dell'interferometria a luce bianca (WLI) per misurare profili di superficie e rugosità fino a 0.05 µm; aggiungendo l'...
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Serie F20
Produttore:Applicazioni:
La serie F20 comprende strumenti di misura dello spessore di film per tutti gli usi, e vengono utilizzati per migliaia di diverse applicazioni in tutto il mondo. Lo spessore e l'indice di rifrazione possono essere misurati in meno di un secondo. Come tutti gli strumenti di misura...
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Sensore Lens-Less
Produttore:Categoria:Applicazioni:Scienza delle Superfici, MEMS: analisi dinamica, Scienza dei Materiali, Analisi di proprietà Opto-elettroniche, Analisi Proprietà Elettriche Materiali sulla Nanoscala, Materiali per l' Energia, Materiali Semiconduttori, Caratterizzazione dei Materiali Polimerici, Misura 3D della Rugosità Superficiale, Caratterizzazione dei Rivestimenti Superficiali
Il Sensor Lens-less sensor è un DHM® con campo visivo fisso: questo design unico e brevettato è robusto e ideale per applicazioni industriali. La configurazione in riflessione misura la topografia 3D con una risoluzione sub-nanometrica.
L'olografia digitale offre vantaggi significativi se...
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SmartWLI Compact
Produttore:Categoria:Applicazioni:
SmartWLI compact è un sensore di superficie 3D per utilizzo in linea e mobile, per applicazioni che richiedono alte prestazioni in ambienti estremi e con tempi di ciclo estremamente brevi.
- VELOCE - Sono possibili tempi di ciclo sotto il secondo...
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Profilometro ottico 3D S Neox Five Axis
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Il profilometro ottico 3D Five Axis unisce un modulo rotazionale ad alta accuratezza con funzionalità avanzate di ispezione e analisi. Ciò rende possibile una misurazione automatica in 3D della superficie su posizioni definite, che una volta combinate consentono di effettuare misure volumetriche...
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S onix
Produttore:Categoria:Applicazioni:
Il sensore S onix rende disponibile la velocità richiesta in un sistema di metrologia industriale ad alto volume di produzione. Con la sua camera ad alta velocità e il design ottimizzato dal punto di vista ottico e meccanico, S onix è fino a 7 volte più veloce di altri sistemi interferometrici...
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smartWLI Microscope
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Microscopi ottici classici possono essere trasformati in uno strumento 3D di misura di superfici, completo in tutte le sue parti, ampliandone significativamente l'utilità. Utilizzando il principio di misurazione nativo si possono raccogliere dati in 3D ad alta precisione attraverso il range...
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S Mart
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Il modello S mart è il punto più alto di sviluppo tecnologico per Sensofar, raggiunto a seguito di più di 14 anni di esperienza nello sviluppo di sistemi di metrologia di superfici. È stato progettato fin da principio come strumento che potesse essere integrato in sistemi produttivi e che fosse...
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S lynx
Produttore:Categoria:Applicazioni:
S lynx è il nuovo profilometro 3D a non contatto ad alta risoluzione, in un formato più compatto. Questo sistema è il risultato di oltre 14 anni di esperienza della casa spagnola nel progettare sistemi ottici per metrologia, sia per il settore della Ricerca e Sviluppo...
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DWS RheoLab
Produttore:Categoria:Applicazioni:
Il DWS RheoLab: dalla microreologia alla macroreologia
La necessità di comprendere le proprietà meccaniche di sostanza naturali o artificiali che contengano piccole particelle è diventata uno dei principali campi di interesse per diversi laboratori che lavorano su...
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Microscopio STM/AFM Nano-Observer
Produttore:Categoria:Applicazioni:Nanoparticelle, Scienza delle Superfici, Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia, Analisi su Singole Cellule, Analisi su singole Catene di DNA/RNA, Analisi su Singole Proteine, Analisi su Tessuti Biologici, Scienza dei Materiali, Biomateriali, Analisi di proprietà Opto-elettroniche, Film Sottili, Analisi Proprietà Elettriche Materiali sulla Nanoscala, Materiali per l' Energia, Materiali Semiconduttori, Caratterizzazione dei Materiali Polimerici
Il nuovo microscopio AFM Nano-Observer si caratterizza per il rapporto Qualità/prezzo. Si tratta di un microscopio con caratteristiche prestazionali idonee a misurazioni sulla nano-scala di frontiera, ad un prezzo concorrenziale...
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Modulo Soft ResiScope
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Soft ResiScope: caratterizzazione elettrica AFM su campioni morbidi
Questa modalità AFM unica e innovativa è in grado di espandere i campi di applicazione del «ResiScope II» a campioni morbidi come celle solari organiche, polimeri conduttivi... -
Controller AFM-SPM - Modalità HD-KFM
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La Kelvin Force Microscopy (KFM) consente di misurare il potenziale di superficie tra...
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Profilometro ottico 3D S Neox Five Axis - Edizione 2019
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Completa accessibilità
Il profilometro ottico 3D a cinque assi S neox combina un modulo rotazionale ad alta precisione con le capacità avanzate di ispezione e analisi del profilometro ottico 3D S neox. Permette misurazioni automatiche della superficie 3D in posizioni precise che possono...