Caratterizzazione dei Materiali Polimerici

Cypher VRS AFM è il primo e unico AFM con funzionalità video complete. Finalmente i ricercatori possono misurare i processi dinamici su scala nanometrica a velocità video, potendo usufruire di tutta la risoluzione, la versatilità e la facilità d'uso che sono le caratteristiche...

Il Cypher S di Asylum Research è stato il primo modello ad alta velocità di scansione della famiglia Cypher a essere stato messo in commercio; gli AFM Cypher sono gli unici microscopi AFM compatibili con un range completo di modalità e accessori. Gli AFM Cypher hanno anche un'...

La serie F20 comprende strumenti di misura dello spessore di film per tutti gli usi, e vengono utilizzati per migliaia di diverse applicazioni in tutto il mondo. Lo spessore e l'indice di rifrazione possono essere misurati in meno di un secondo. Come tutti gli strumenti di misura...

SmartWLI compact è un sensore di superficie 3D per utilizzo in linea e mobile, per applicazioni che richiedono alte prestazioni in ambienti estremi e con tempi di ciclo estremamente brevi.

• VELOCE - Sono possibili tempi di ciclo sotto il secondo...

Il sensore S onix rende disponibile la velocità richiesta in un sistema di metrologia industriale ad alto volume di produzione. Con la sua camera ad alta velocità e il design ottimizzato dal punto di vista ottico e meccanico, S onix è fino a 7 volte più veloce di altri sistemi interferometrici...

Il modello S mart è il punto più alto di sviluppo tecnologico per Sensofar, raggiunto a seguito di più di 14 anni di esperienza nello sviluppo di sistemi di metrologia di superfici. È stato progettato fin da principio come strumento che potesse essere integrato in sistemi produttivi e che fosse...

Il DWS RheoLab: dalla microreologia alla macroreologia

La necessità di comprendere le proprietà meccaniche di sostanza naturali o artificiali che contengano piccole particelle è diventata uno dei principali campi di interesse per diversi laboratori che lavorano su...

Concept Scientific Instruments ha sviluppato una modalità di misurazione alternativa denominata Soft Intermittent Contact mode (o Soft IC) che combina i vantaggi della modalità a contatto e della spettroscopia di forza ma preservando la misura dagli annessi...

La Kelvin Force Microscopy (KFM) consente di misurare il potenziale di superficie tra una punta conduttiva oscillante e la superficie. La misurazione del potenziale di superficie può essere utilizzata per determinare...