LiteScope™ - Un accessorio AFM unico per il vostro SEM

Martedì 15 Maggio 2018

Scopri questa tecnologia unica per la microscopia elettronica

La facile integrazione e combinazione di Microscopia a Forza Atomica e Microscopia Elettronica a Scansione rende possibile l'analisi di campioni complessi in 3D. In questa principale caratteristica sta la rivoluzione tecnologica di LiteScope™.

 

scarica la BROCHURE

 

 

Dove sta l'innovazione del Litescope?
  • Apre nuove prospettive per la Miscroscopia Elettronica a Scansione 
  • Per primo utilizza la tecnica unica della microscopia correlativa, CPEM
  • Rende possibile la navigazione precisa della sonda sul punto di misura utilizzando un SEM con alta risoluzione e con alto ingrandimento (diversamente da un microscopio ottico)
  • Offre l'opportunità di misurare topografia 3D, conduttività, proprietà magnetiche di superficie e altre proprietà dentro il SEM

 

ULTERIORI DETTAGLI

Installazione e integrazione estremamente semplici
  • Il LiteScope™ si connette in maniera semplice a un SEM in modalità "Plug & Play", bastano 5 - 10 minuti.
     
  • È compatibile con i SEM di recente produzione e con quelli già esistenti, dei costruttori più noti, quali per esempio TESCAN, Thermo Fisher Scientific (FEI), ZEISS, Hitachi, e JEOL.
Correlative Probe and Electron Microscopy™ (CPEM)

LiteScope™ crea un set di innovative tecniche di misura che rendono possibile la microscopia correlativa. La tecnologia CPEM è la prima di questo tipo a essere introdotta sul mercato. Permette di effettuare misure AFM e SEM nello stesso momento e nello stesso punto. Solamente la tecnologia CPEM è in grado di fornire allo stesso tempo i vantaggi di imaging propri delle tecniche AFM e SEM.

  • La CPEM fornisce imaging con correlazioni multidimensionali - le immagini ottenute dal SEM vengono estese in 3D.
  • Usando la CPEM è possibile, in maniera veloce e accurata, distinguere il contrasto topografico e di materiale in immagini SEM .
  • La CPEM correla, in maniera adeguata, due o più segnali SEM con la topografia misurata, ad esempio SE, BSE, EBIC, ecc...
  • La CPEM permette di fare misure simultanee in AFM e SEM nelle stesse condizioni, alla stessa velocità di misura, ecc...
  • Un sistema combinato di scansione AFM e SEM rende possibile una accurata correlazione dell'immagine, l'eliminazione del drift e di altre inaccuratezze.
Esempi di Applicazioni
Semiconduttori, celle solari,
dispositivi di memoria, MEMS e NEMS
  Controllo qualità
e Ricerca e Sviluppo
     
Il LiteScope™ rende più efficace l'analisi delle strutture di superficie e dei nano-device.   Il LiteScope™ permette di caratterizzare superfici fresate, in generale come risultato di deposizione FIB o GIS.

  

Scienza dei Materiali e Nanotecnologia
   
Il LiteScope™ è lo strumento ideale per questo tipo di applicazioni scientifiche. I suoi vantaggi lo rendono estremamente utile per tecnologie come FIB e GIS, cioè tecnologie che creano strutture all'interno del SEM.