Gli standard di Step Height di AppNano sono progettati esclusivamente per la calibrazione sugli assi X,Y, e Z di microscopi a scansione di sonda e di profilometri. Questi standard sono definiti in silice ottenuta per ossidazione termica su un substrato di silicio. Uno strato di Cr è depositato...
AppNano
Applied NanoStructures, sviluppa, produce e distribuisce varie nanostrutture, punte AFM/SPM per svariate applicazioni, convenzionali e dedicate. AppNano può fare leva su una grande esperienza nella tecnologia di nanofabbricazione e nella ricerca sulle sonde AFM, per mettere a disposizione le migliori sonde, utilizzando la più recente tecnologia. Grazie agli strumenti disponibili nella sede AppNano, la camera bianca e gli strumenti di caratterizzazione delle superfici, è in grado di rispondere a necessità di prototipazione, adattabilità e versatibilità nella concezione e nello sviluppo di nuovi prodotti per i clienti. Programmi di ricerca sono continuamente in essere, sia nella sede che presso collaboratori esterni, per sviluppare insieme sonde dalle alte prestazioni per applicazioni avanzate.
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SHS: Step Height Standards
Produttore:Categoria:
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VertiSenseTM Imaging Amplifier
Produttore:Categoria:
Il VertiSense Thermal Imaging Amplifier viene utilizzato per la Microscopia a Scansione Termica. Questo innovativo amplificatore con una riduzione altissima del rumore è utilizzato con le punte AppNano VertiSenseTM per creare immagini delle proprietà termiche di un campione sia in Temperature...
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VertiSenseTM Punte termiche
Produttore:Categoria:
Le punte VertiSenseTM Thermal Probes vengono utilizzate per Microscopia a Scansione Termica. Queste punte innovative possono essere utilizzate per campionare le proprietà termiche di campioni sia in modalità Temperature Mapping che Thermal Conductivity. Il sensore a termocoppia è posizionato all...
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Serie Hydra All - 4 cantilever in nitruro di silicio su un singolo chip
Produttore:Categoria:
La punta Hydra-All è un chip 4 in 1, con quattro cantilever dalla differente costante elastica e lunghezza. Questa punta è progettata per lavorare con materiali "soft", e può essere utilizzata per diverse funzioni.
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Serie Hydra a V - Punte di Nitruro di Silicio
Produttore:Categoria:
Le punte della serie HYDRA-V hanno i cantilever a forma di V con una punta in silicio per imaging di campioni "soft". Queste punte possono essere utilizzate per modalità a intermittenza e a contatt e per modalità in forza-distanza.
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Punte AFM/SPM Nitruro di Silicio (Soft) - HYDRA Rectangular Series
Produttore:Categoria:
Le punte Hydra Serie R sono cantilever di nitruro di silicio con una estremità molto sottile di silicio, progettate per applicazioni forza-distanza. Queste punte possono essere usate anche per modalità a intermittenza e a contatto in aria e fluido.
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Punte magnetiche rivestite (MFM) - Serie MAGT
Produttore:Categoria:
Le punte della serie MACT sono per le applicazioni MFM (Miscroscopia a Forza Magnerica). Le punte MAGT hanno un momento magnetico medio del material di rivestimento, le MAGT-LM hanno un basso momento magnetico e le MAGT-HM hanno un alto momento.
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Punte rivestite conduttive Platino-Iridio - Serie ANSCM
Produttore:Categoria:
Le punte della serie ANSCM sono rivestite con Platino-Iridio su entrambi i lati per applicazioni EFM. Le punte ANSCM-PA sono da utilizzarsi per la modalità a intermittenza, le punte ANSCM-PT per la modulazione di forza, e le punte ANSCM-PC sono da utilizzarsi per le applicazioni a contatto. Le...
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Punte conduttive ad alta durata rivestite in diamante - Serie Doped Diamond
Produttore:Categoria:
Le punte rivestite in diamante (DD) offrono un'unica combinazione di durezza e di conducibilità. L'estremità di queste punte è rivestita di diamante policristallino, ben conosciuto per la sua notevole resistenza. La pellicola di diamante è rinforzata con Boro per renderlo estremamente conduttivo...
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Punte ad alto rapporto dimensionale - Serie Hart
Produttore:
AppNano produce punte con diverse lunghezze e larghezze dell'estremità, ideali per avvallamenti e profonde insenature nei campioni. I diversi produttori di strumenti SPM/AFM utilizzano diverse angolazioni sui chip. AppNano fornisce opzioni per adeguare le proprie punte a tutti gli AFM in...
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Punte con estremità alta - Serie TAP-TALL
Produttore:
Le punte della serie TAP-TALL sono punte speciali alte 65 μm per la profilazione di superfici molto variabili in profondità e con significative scanalature. Le punte standard sono adeguate solo per profondità che si assestano sui 10-15 μm.
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Punte sferiche colloidali su Cantilever
Produttore:
Le punte colloidali per AFM richiedono una punta di forma conosciuta, che deve essere montata con precisione su un cantilever riproducibile senza variazioni. Queste punta sono conosciute come Punte Colloidali e sono usate per studiare le interazioni colloidali tra due superfici e per...
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Punte con estremità tonda in carbonio - Serie Ball Probes
Produttore:
Queste punte sono progettate per applicazioni che chiedono un contatto forte con il campione. L'apice della punta è creato utilizzando carbonio ad alta densità risultante da deposizione da fascio di elettroni. È di forma emisferica e ha una superficie estremamente liscia.
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Punte smussate - Plateau PTU Serie
Produttore:
La punte Serie Plateau (PTU) sono contraddistinte da punta conica appiattita. Questa serie fornisce un'area di contatto ben definita.
Sono disponibili su richiesta rivestimenti personalizzati in oro e platino.
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Punte "tip view" con rivestimento conduttivo - Conductive ACCESS
Produttore:Categoria:
Le punte Conductive ACCESS sono punte di silicio con rivestimenti conduttivi (Platino-Iridio e oro) progettati per permettere una visuale diretta della punta AFM in produzione di immagini. Le punte ACCESS-EFM sono rivestite con Platino-Iridio, mentre le ACCESS-FM-GG sono rivestite in oro....
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Punte "tip view" in modulazione di forza - ACCESS-FM
Produttore:Categoria:
Le punte della serie ACCESS-NC sono punte appuntite in silicio, progettate per pemettere una visuale diretta della punta AFM durante la produzione di immagini. Queste punte sono progettate per l'utilizzo in modulazione di forza.
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Punte "tip view" in modalità a intermittenza - ACCESS-NC
Produttore:Categoria:
Le punte della serie ACCESS-NC sono punte appuntite in silicio, progettate per pemettere una visuale diretta della punta AFM durante la produzione di immagini. Queste punte sono progettate per modalità a non contatto e a intermittenza.
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Punte in Silicio super acuminate - Serie SuperSharp
Produttore:Categoria:
AppNano produce punte super acuminate (SS) con un processo brevettato. Le punte risultanti ottengono un impercettibile raggio di curvatura (1-2nm). Le punte AppNano della serie Super Sharp consentono immagini dalla risoluzione potenziata.
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Punte a ultra-alta frequenza - Serie UHF
Produttore:Categoria:
Le punte della serie a Ultra-Alta Frequenza (UHF) sono state progettate per una risoluzione di immagini veloce e di alta qualità.
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Punte in Silicio per modalità a contatto - Serie SICON
Produttore:Categoria:
Le punte della Serie SICON sono adatte ad applicazioni in modalità a contatto. Queste punte hanno un cantilever lungo e sottile, che permette una bassa costante elastica e una miglior dispersione del laser.
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Punte in modalità contatto a piccolo raggio di curvatura - Serie SHOCON
Produttore:Categoria:
Le punte della serie SHOCON sono pensate per applicazioni in modalità a contatto con una lunghezza inferiore alla norma, che permette una migliore sensibilità senza compromettere i requisiti di costante elastica.
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Punte in Silicio per modulazione di forza - Serie FORT
Produttore:Categoria:
Le punte della serie FORT sono progettate per applicazioni a modulazione di forza. La frequenza media e la costante elastica di queste punte le rendono ideali per questa applicazione.
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Punte in Silicio soft-tapping - Serie ACST
Produttore:Categoria:
Le punte della Serie ACST sono progettate per applicazioni in modalità soft-tapping o non contatto. Le ACST sono moderatamente soft con una frequenza di risonanza di media gamma. Queste punte sono disponibili con o senza rivestimento in Alluminio sul lato posteriore.
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Punte SPM/AFM Serie ACL in Silicio con cantilever lungo per modalità a intermittenza
Produttore:Categoria:
Le punte della Serie ACL sono progettate per utilizzo in modalità a non contatto, a contatto intermittente, e contatto ravvicinato. Il cantilever lungo permette una più ampia dispersione del laser. Queste punte sono disponibili con o senza rivestimento in alluminio sul lato posteriore.
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Punte SPM/AFM Serie ACT in Silicio per modalità a intermittenza
Produttore:Categoria:
Le punte della Serie ACT sono progettate per applicazioni a non contatto, a contatto intermittente (tapping) e a scansione di campo vicino, in aria e in fluidi. Le punte ACT hanno un'alta frequenza, che permette una scansione più veloce. Queste punte sono disponibili con o senza rivestimento in...