Cypher ES Environmental AFM

Controllo completo dell'ambiente di sperimentazione

L'Asylum Research Cypher ES si basa sulle prestazioni eccezionali del modello Cypher S, al quale aggiunge la possibilità di un totale controllo dell'ambiente di sperimentazione. Alta risoluzione, velocità e stabilità sono mantenute allo stello livello, altissimo, dell'S, pur operando in ambienti con gas e/o liquidi, a temperature da 0 a 250°C, e anche in presenza di agenti chimici estremamente aggressivi. Il Cypher ES è il massimo per i requisiti sperimentali più esigenti.

  • Ottiene sistematicamente una maggiore risoluzione degli altri microscopi AFM

  • Scansione veloce con risultati disponibili in pochi secondi invece che in minuti

  • Ogni passaggio operativo è semplificato per aumentare in modo significativo la produttività

  • Dimensioni ridotte, grandissimo potenziale di crescita

  • Qualità del supporto, che supera le aspettative

  • La cella sigillata può essere riempita di gas o liquidi

  • Controllo della temperatura del campione nel range 0–250°C

  • La più ampia compatibilità con agenti chimici aggressivi

Video

Webinar: There's No Other AFM Like Cypher - Roger Proksch e Mario Viani descrivono in maniera approfondita alcune delle numerose caratteristiche e capacità che distinguono gli AFM Cypher da tutti gli altri AFM presenti sul mercato.
Crescita e incisione di cristalli in una dislocazione a vite su calcite - Immagini catturate con un Cypher ES a una frequenza di linea di 19,5 Hz utilizzando la cella di perfusione e l'eccitazione fototermica blueDrive.

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PDF icon Brochure della linea Cypher6.16 MB
Ottieni sistematicamente una risoluzione più alta degli altri microscopi AFM
  • Stabilità meccanica impareggiabile — il rumore di fondo è la metà di qualsiasi altro AFM
  • Dispersione eccezionalmente bassa — di elevata risoluzione atomica e con reticolo non distorto
  • Elettroniche a basso rumore — nessun artefatto da sorgenti di rumore elettronico
Scansione veloce con risultati disponibili in secondi invece che in minuti
  • Tempi di scansione più veloci nell'odine di 10-100 volte rispetto ai tempi tipici degli altri AFM
  • Supporta le sonde più veloci e più piccole (dimensione dello spot 3×9 µm — opzionale)
  • Velocità di scansione veloce che va oltre la topografia — nanomeccanica, CAFM, PFM
Ogni fase operativa è semplificata, per aumentare in maniera esponenziale la produttività
  • ModeMaster™ configura automaticamente il software per la modalità selezionata
  • SpotOn™ con un solo click allinea il laser completamente motorizzato e il detector
  • GetReal™ calibra automaticamente la costante elastica e la sensibilità del cantilever
  • GetStarted™ imposta automaticamente i parametri ottimali per l'imaging in modalità tapping
  • blueDrive™ rende la modalità di tapping più semplice, più stabile e più misurabile
Occupazione dello spazio minima in laboratorio, un potenziale di crescita enorme in capacità operative
  • Suite completa di modalità di caratterizzazione nanomeccanica, per la misura di proprietà viscoelastiche (storage/elastic modulus e loss modulus)
  • Gamma senza uguali di modalità di caratterizzazione nanoelettrica ed elettromeccanica
  • Espandibile al modello Cypher ES per il controllo ambientale e al Cypher VRS per il video-rate imaging
  • Diverse modalità operative di serie e ancor più modalità opzionali a disposizione.
Supporto che supera le aspettative
  • Include una garanzia standard di due anni
  • Supporto tecnico gratuito e supporto a vita di esperti nelle diverse applicazioni 
  • Estensione di garanzia e costi di riparazione tra i più bassi del settore
Permette l'uso di gas e liquidi in una cella completamente sigillata
  • Le celle in cui vengono posti i campioni sono completamente sigillate e mantengono il controllo dell'ambiente di lavoro, eliminando il rischio di perdite
  • Compatibile con la scansione veloce e gli accessori di controllo ambientale
Controllo della temperatura del campione in un range da 0 a 250°C
  • Sono disponibili due opzioni: riscaldamento fino a 250°C o riscaldamento e raffreddamento da 0 a 120°C
  • La progettazione a bassa deriva permette di continuare a fare imaging anche mentre si incrementa la temperatura
  • Facile e veloce da installare e utilizzare, in assenza di controlli esterni, tubazioni, fili, ecc...
Ampia compatibilità con prodotti chimici aggressivi
  • Le celle per i campioni sono costruite in maniera che solamente il silicio fuso e la probe clip (PEEK o acciaio inossidabile) siano in contatto con liquidi
  • La configurazione opzionale per la glovebox permette l'uso di ossigeno o materiali che reagiscano a contatto con l'acqua
Modalità operative incluse
  • Contact mode
  • DART PFM
  • Dual AC
  • Dual AC Resonance Tracking (DART)
  • Electrostatic Force Microscopy (EFM)
  • Force curves
  • Force Mapping Mode (force volume)
  • Force modulation
  • Frequency modulation
  • Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
  • Lateral Force Mode (LFM)
  • Loss tangent imaging
  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Nanolithography
  • Nanomanipulation
  • Phase imaging
  • Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
  • Switching spectroscopy PFM
  • Tapping mode (AC mode)
  • Tapping mode with digital Q control
  • Vector PFM
Modalità Operative Opzionali
  • AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
  • Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
  • Conductive AFM (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
  • Current mapping with Fast Force Mapping
  • Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
  • Fast Force Mapping Mode
  • High voltage PFM
  • Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
  • Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
  • Scanning Tunneling Microscopy (STM)

Alcune modalità opzionali sul Cypher ES richiedono l'accessorio "blueDrive photothermal excitation"; l'opzione sMIM richiede lo scanner Cypher S.