Cypher S AFM Microscope

Il modello base della famiglia di microscopi AFM Cypher

Il Cypher S di Asylum Research è stato il primo modello ad alta velocità di scansione della famiglia Cypher a essere stato messo in commercio; gli AFM Cypher sono gli unici microscopi AFM compatibili con un range completo di modalità e accessori. Gli AFM Cypher hanno anche un'ottima reputazione per il fatto che ottengono con estrema facilità una risoluzione migliore degli altri AFM. Il Cypher S è un ottimo AFM sia per la ricerca sulle scienze dei materiali che per la Life Science, per misure sia in aria che in liquidi. Il Cypher S può essere aggiornato in un secondo momento con le opzioni di controllo ambientale o anche di scansione in video-rate.

  • Ottiene sistematicamente una maggiore risoluzione degli altri microscopi AFM

  • Scansione veloce con risultati disponibili in pochi secondi invece che in minuti

  • Ogni passaggio operativo è semplificato per aumentare in modo significativo la produttività

  • Dimensioni ridotte, grandissimo potenziale di crescita

  • Qualità del supporto, che supera le aspettative

Video

Webinar: There's No Other AFM Like Cypher - Roger Proksch e Mario Viani descrivono in maniera approfondita alcune delle numerose caratteristiche e capacità che distinguono gli AFM Cypher da tutti gli altri AFM presenti sul mercato.
Sublimazione di un cristallo di antracene in aria - Immagini catturate con un Cypher S con una frequenza di linea di 20,8 Hz
Ricostruzione superficiale di una faccia di cristallo di calcite - Immagini catturate con il Cypher S con una frequenza di linea di 40 Hz
PFM ad alta velocità su un campione di PPLN - Immagini catturate con il Cypher S a una frequenza di linea di 39 Hz. Questo esempio dimostra che l'AFM ad alta velocità può andare oltre la topografia.

File

AllegatoDimensione
PDF icon Brochure della serie Cypher6.16 MB
Ottieni sistematicamente una risoluzione più alta degli altri microscopi AFM
  • Stabilità meccanica impareggiabile — il rumore di fondo è la metà di qualsiasi altro AFM
  • Dispersione eccezionalmente bassa — di elevata risoluzione atomica e con reticolo non distorto
  • Elettroniche a basso rumore — nessun artefatto da sorgenti di rumore elettronico
Scansione veloce con risultati disponibili in secondi invece che in minuti
  • Tempi di scansione più veloci nell'odine di 10-100 volte rispetto ai tempi tipici degli altri AFM
  • Supporta le sonde più veloci e più piccole (dimensione dello spot 3×9 µm — opzionale)
  • Velocità di scansione veloce che va oltre la topografia — nanomeccanica, CAFM, PFM
Ogni fase operativa è semplificata, per aumentare in maniera esponenziale la produttività
  • ModeMaster™ configura automaticamente il software per la modalità selezionata
  • SpotOn™ con un solo click allinea il laser completamente motorizzato e il detector
  • GetReal™ calibra automaticamente la costante elastica e la sensibilità del cantilever
  • GetStarted™ imposta automaticamente i parametri ottimali per l'imaging in modalità tapping
  • blueDrive™ rende la modalità di tapping più semplice, più stabile e più misurabile
Occupazione dello spazio minima in laboratorio, un potenziale di crescita enorme in capacità operative
  • Suite completa di modalità di caratterizzazione nanomeccanica, per la misura di proprietà viscoelastiche (storage/elastic modulus e loss modulus)
  • Gamma senza uguali di modalità di caratterizzazione nanoelettrica ed elettromeccanica
  • Espandibile al modello Cypher ES per il controllo ambientale e al Cypher VRS per il video-rate imaging
  • Diverse modalità operative di serie e ancor più modalità opzionali a disposizione.
Supporto che supera le aspettative
  • Include una garanzia standard di due anni
  • Supporto tecnico gratuito e supporto a vita di esperti nelle diverse applicazioni 
  • Estensione di garanzia e costi di riparazione tra i più bassi del settore
Modalità operative incluse
  • Contact mode
  • DART PFM
  • Dual AC
  • Dual AC Resonance Tracking (DART)
  • Electrostatic Force Microscopy (EFM)
  • Force curves
  • Force Mapping Mode (force volume)
  • Force modulation
  • Frequency modulation
  • Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
  • Lateral Force Mode (LFM)
  • Loss tangent imaging
  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Nanolithography
  • Nanomanipulation
  • Phase imaging
  • Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
  • Switching spectroscopy PFM
  • Tapping mode (AC mode)
  • Tapping mode with digital Q control
  • Vector PFM
Modalità operative opzionali
  • AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
  • Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
  • Conductive AFM (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
  • Current mapping with Fast Force Mapping
  • Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
  • Fast Force Mapping Mode
  • High voltage PFM
  • Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
  • Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
  • Scanning Tunneling Microscopy (STM)