DVIA-MLP series

La serie DVIA-MLP di Daeil Systems rappresenta un sistema di isolamento attivo dalle vibrazioni all'avanguardia, progettato specificamente per i microscopi elettronici a scansione (SEM). Questo sistema stabilisce un nuovo standard nel controllo attivo delle vibrazioni, offrendo ambienti controllati per SEM di fascia alta.

Caratteristiche principali:

• Installazione semplificata: Il DVIA-MLP utilizza un metodo di installazione laterale, evitando la necessità di sollevare il microscopio e aumentando l'altezza del microscopio di soli pochi centimetri. Questo design mantiene l'ergonomia e la compatibilità sia con le enclosure originali che con quelle aftermarket.

• Design a basso profilo: Con un'altezza ridotta del 34% rispetto ai principali concorrenti, la piattaforma DVIA-MLP offre una soluzione salvaspazio senza compromettere le prestazioni, risultando ideale per ambienti con spazio limitato.

• Controllo attivo delle vibrazioni in sei gradi di libertà: Il sistema gestisce le vibrazioni in tre gradi di movimento traslazionale (X, Y e Z) e tre gradi di movimento rotazionale (beccheggio, rollio e imbardata), garantendo una stabilità ottimale per le apparecchiature sensibili.

• Sensori ad alta sensibilità: Dotata di sensori avanzati, la serie DVIA-MLP è in grado di rilevare efficacemente le vibrazioni a bassa frequenza, garantendo misurazioni accurate.

• Processore digitale ad alte prestazioni: Il sistema è equipaggiato con un processore digitale a virgola mobile ad alte prestazioni (DSP), che offre una risposta rapida e precisa alle vibrazioni, assicurando un'elaborazione dei dati accurata e sincronizzata.

In sintesi, la serie DVIA-MLP di Daeil Systems offre una soluzione avanzata per l'isolamento attivo delle vibrazioni, migliorando significativamente le prestazioni dei microscopi elettronici a scansione e altre apparecchiature analitiche sensibili, garantendo al contempo un design compatto e funzionalità superiori.