Jupiter XR AFM

Il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni che offre allo stesso tempo imaging ad alta velocità e ampio raggio di scansione

Il Microscopio a Forza Atomica Jupiter XR è il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni che offre allo stesso tempo imaging ad alta velocità e lungo raggio nella stessa scansione. Jupiter fornisce accesso completo a campioni da 200 mm e fornisce alta risoluzione, risultati veloci, una facile user experience, e la versatilità per eccellere sia nella ricerca accademica che nei laboratori industriali di Ricerca e Sviluppo.

  • Risoluzione maggiore di qualsiasi altro AFM per campioni di grandi dimensioni

  • Lo scanner 100 μm ad ampio raggio è da 5 a 20 volte più veloce della maggior parte degli altri AFM

  • Dalle impostazioni ai risultati, ogni passaggio è semplice e veloce 

  • Il designo modulare si adatta alle necessità dell'utente per la massima flessibilità

Video

SpotOn rende l'allineamento del laser e la taratura del sensore facile e veloce.
Il Jupiter XR AFM di Asylum conta su uno stage completamente controllabile, che può raggiungere qualsiasi punto in un diametro di 200mm.
Con il Jupiter XR la misura della rugosità è altamente ripetibile. In questo video la rugosità del substrato di un disco è stata misurata per 1000 volte durante 15 ore. Il valore di rugosità Rq rimane ripetibile e stabile.

File

AllegatoDimensione
PDF icon Brochure Jupiter XR AFM3.17 MB
Altissime prestazioni
  • Maggiore risoluzione di qualsiasi altro AFM per grandi campioni
  • Scanner con raggio esteso, che è dalle 5 alle venti volte più veloce della maggior parte degli altri AFM, e prevede un ampio range, 100 μm X-Y e 12 μm Z
  • L'esclusivo Tapping Mode blueDrive™ fornisce risultati più riproducibili e semplifica le operazioni
Esperienza d'uso più semplice
  • Le impostazioni completamente motorizzate del laser e del detector eliminano le regolazioni manuali tramite manopola
  • Lo stage completamente regolabile ad alta velocità raggiunge rapidamente qualsiasi punto su campioni da 200mm
  • Il sistema di ottiche dall'alto aiuta a trovare facilmente la zona precisa di interesse
  • Si può spaziare con scansioni da atomi fino a 100-μm utilizzando qualsiasi modalità di imaging, semplicemente usando lo scanner XR
Versatilità per diverse necessità di ricerca
  • Supporto per una gamma completa di modalità di imaging
  • Il design modulare rende facile e veloce aggiungere accessori ed apportare migliorie future
  • Il software flessibile rende semplici le misure di routine, consentendo allo stesso tempo di effettuare ricerche avanzate
Modalità Operative

Modalità Operative Incluse

MOdalità a contatto
DART PFM
Dual AC
Dual AC Resonance Tracking (DART)
Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Force curves
Force Mapping Mode (force volume)
Force modulation
Frequency modulation
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
Lateral Force Mode (LFM)
Loss tangent imaging
Magnetic Force Microscopy (MFM)
Nanolithography
Nanomanipulation
Phase imaging
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Switching spectroscopy PFM
Tapping mode (AC mode)
Tapping mode with digital Q control
Vector PFM

Modalità Operative incluse poiché Jupiter XR ha di serie "blueDrive"

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode

Modalità Operative Opzionali

Conductive AFM (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
Current mapping with Fast Force Mapping
Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Fast Force Mapping Mode
High voltage PFM
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)