Microscopio STM/AFM Nano-Observer

NEW!

Il nuovo microscopio AFM Nano-Observer si caratterizza per il rapporto Qualità/prezzo. Si tratta di un microscopio con caratteristiche prestazionali idonee a misurazioni sulla nano-scala di frontiera, ad un prezzo concorrenziale. Il microscopio è stato sviluppato da Concept Scientific Instruments (con sede a Les Ulis nell'area metropolitana di Parigi).

Il Nano-Observer si distingue per le seguenti caratteristiche funzionali/prestazionali:

  • Singolo scanner con spazzata 100umX100umX9um ed alta risoluzione. Ciò rende possibile zoomare in aree di interesse sub-micrometriche, e fare imaging con risoluzione molecolare partendo da una visione di insieme su scala di molte decine di micometri
  • Dotazione di una cameretta entro la quale si può agevolmente creare un'atmosfera controllata (es. gas inerte), con laser e fotodiodo esterni a tale camera
  • Modalità SPM avanzate, con particolare focus su AFM conduttivo (noto come: I-AFM, o C-AFM o CS-AFM) con il più vasto range di corrente elettrica disponibile sul mercato!
  • Ottimo contrasto di fase, importante nelle modalità di imaging avanzate!
  • Facilità di utlizzo: grazie ad una interfaccia SW moderna che consente di visualizzare

Contattaci per saperne di più!

 
00:00

Caratteristiche Tecniche

XY Scan range 100µm (tolerance +/- 10%)
Z range 9µm ( tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control – 0.006 Angströms
Z noise level <0.05nm RMS
Reduced coherence laser Wavelenght 658 nm – power < 1mW
Color optical view system Top and side view
6 DAC Outputs 6 D/A Converters – 24 bit
8 ADC Inputs 8 A/D Converters – 16 bit
Data points Up to 4096
Integrated Lock-in (Oscillating mode & phase) Up to 6 MHz
Interface USB 2.0
Controller size - weight 8 cm x 20 cm x 26 cm - 2 kg
Power AC 100 – 240 V 47-63 Hz
Operating System Windows XP (SP3 & Framework.NET 3.5 SP1) or Windows 7 (32/64bit)

File