PanScan Lumin

Nuovo standard per i sistemi LT SPM cryogen-free per la nanoscienza.
Produttore: 
RHK Technology
Categoria: 
Microscopi UHV STM/AFM

RHK presenta PanScan Lumin-SLT, una famiglia di STM/AFM criogenici con ottiche integrate e con un'efficienza di light collection che la rendono leader del settore. La combinazione di ottica ad alta efficienza e SPM ad alta stabilità del Lumin-SLT consente lo studio dell'interazione tra proprietà morfologiche, ottiche ed elettroniche su un'ampia gamma di materiali.

Ideale per:

  • Catodoluminescenza (CL)
  • Fotoluminescenza (PL)
  • STM Light Emission (STM-LE)
  • Spettroscopia Raman

Caratteristiche principali

  • Efficienza di light collection fino al 70%.
  • Lunghezze d'onda ottiche da Deep UV a Far IR
  • Specchio parabolico integrato con nanoposizionatori 3D in situ
  • Risoluzione della scala atomica da 9K a 400K
  • Misure SPM e ottiche simultanee
  • Disponibili versioni senza criogeno e criostato a flusso
  • Drift di misura molto basso
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Video

PanScan Lumin-SLT Webinar 3 Jan 23

News, eventi, promo, webinar

09/03/2023
RHK Technology è in tour in Europa: scopri di persona le soluzioni SPM/AFM UHV del nostro partner!

Applicazioni

Scienza delle Superfici
Scienza dei Materiali

Caratteristiche Tecniche

  • LT STM e AFM
  • Punta e campione refrigerati a temperatura uniforme
  • Compatibile con mK e campi magnetici elevati
  • Elimina la necessità di costosi criogeni
  • Mantiene la temperatura indefinitamente
  • Non avrai più il timore di rimanere senza Elio durante un esperimento!
  • Imaging stabile a bassa temperatura
  • Risoluzione atomica 15-400 K
  • Versione 9-400 K (disponibile come opzione)
  • Drift XY fino a 0,2Å/ora
  • Drift Z fino a 0,2 Å/giorno
  • Eccezionale Scanning tunneling spectroscopy (STS)
  • Offset X-Y integrali
  • Sostituzione della punta nel vuoto
  • STM e AFM-qPlus opzionale, intercambiabili anche in vuoto
  • Dimensione del campione: 10 mm x 10 mm (standard), utilizza un sample holder  a piastra piatta
  • Imaging da LT fino a 400K
  • In grado di ritrarre la punta e riavvicinarsi nella stessa area con elevata precisione
  • Costruzione non magnetica adatta per ambienti ad alta Tesla
  • Posizionamento grossolano XYZ: 5 mm x 5 mm x 8 mm
  • Intervallo di scansione: 6 μm x 6 μm XY a temperatura ambiente
  • Possibilità di cambiare le sonde senza dover rimuovere il campione
  • Accesso ottico migliorato opzionale per una risoluzione <4µm
    • Posizionamento preciso della sonda su un'area specifica del campione con una precisione superiore ai 2 micron
    • La luce e la lente possono essere regolate per fornire un contrasto ottimale per campioni a basso contrasto, come il grafene
    • Caratteristiche disponibili su un massimo di tre diverse porte della camera
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