Serie ND-SSR: Microscopia a scansione di resistenza dispersa

Punta:

Forma: Piramide a tre lati

Altezza: 5.7 μm (± 0.1)

Raggio: Meno di 50 nm

Materiale: UNCD Conduttivo (diamante policristallino)

 

Cantilever:

Tip Setback: 9 μm

Rivestimento:70 nm (± 10) Alluminio

Chip: Pyrex (3.6 x 1.5 x 0.5 mm)

Curvatura: Meno di 3 gradi nominali

Caratteristiche Tecniche

SKU costante di forza n/m frequenza (khkz) lunghezza (um) larghezza (um) spessore (um)
  Nominale range nominale range (± 10) (± 2) (± 0.5)
ND-SSCRS-5 27 13-35 265 150-355 130 33 2.3
ND-SSCRL-5 5.5 4-7 80 50-110 245 42 2.3