Strutture di Test e di Calibrazione

Questi prodotti servono a caratterizzare le punte e a calibrare la strumentazione di misura (microscopi AFM e profilometri).

  • SHS: Step Height Standards -

    Produttore:

    Gli standard di Step Height di AppNano sono progettati esclusivamente per la calibrazione sugli assi X,Y, e Z di microscopi a scansione di sonda e di profilometri. Questi standard sono definiti in silice ottenuta per ossidazione termica su un substrato di silicio. Uno strato di Cr è depositato...

  • HOPG -

    Produttore:

    Highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) è un materiale lamellare che consiste di piani adiacenti. Atomi di carbonio dentro a un singolo piano interagiscono in maniera più consistente che con quelli nei piani adiacenti.
    Ogni atomo dentro a un piano ha tre "vicini", risultando in una...

  • Serie PA -

    Produttore:

    Campione per la caratterizzazione della punta con nanostrutture piramidali. Le strutture sono coperte da uno strato altamente resistente all'usura.

    L'esatta forma della punta di scansione è veramente importante per ottenere immagini AFM di alta qualità e accuratezza. Visto che le punte...

  • Serie TGX -

    Produttore:

    La griglia di calibrazione TGX è un insieme di buchi quadrati con bordi rientranti formati da 110 livelli di piani cristallografici di silicio. Il raggio tipico dei bordi è di 5 nm.

    Le griglie di calibrazione TGX servono a determinare l'aspect ratio della punta e servono per la...

  • Serie TGXYZ -

    Produttore:

    Le griglie di calibrazione della serie TGXYZ sono insiemi di diverse strutture compreso uno step rettangolare di biossido di silicio su un wafer di silicio. Il piccolo quadrato nel centro, di dimensioni 500 μm per 500 μm include colonne circolari e rientranze, linee nelle direzioni X e Y con un...