TERS Raman Microscopi AFM/STM

La Spettroscopia TERS (Tip-enhanced Raman Spectroscopy)  è una tecnica di microscopia a scansione di sonda (SPM) relativamente nuova, che combina la possibilità di caratterizzare dal punto di vista chimico/strutturale, tipico della spettroscopia Raman, con la risoluzione di spazio della microscopia a forza atomica (AFM).

Nel nostro catalogo sono presenti piattaforme avanzatissime per la spettroscopia sulla nanoscala e per la mappatura chimica. Hardware costruito appositamente per ottenere un rumore bassissimo, le migliori performance e divenire un punto di riferimento del settore. Allineamento semplificato delle ottiche con specchio parabolico piezo-controllato fino a 6 assi e da un nuovo specchio ellittico. Nessuna limitazione di ampiezza d'onda, da UV fino a THz, resi disponibili da ottiche uniche "all reflective".

Innavozione a livello di nanometro, dai più esperti designer del settore.