Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Il Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Mercoledì 04 Marzo 2015
Martedì 10 Febbraio 2015
RHK Technology è leader della tecnologia della Microscopia a Scansione di Sonda fin dall'introduzione del suo primo sistema di controllo STM, nel 1988. Centinaia di gruppi di ricerca nel mondo si affidano ai prodotti innovativi di RHK per raggiungere i propri...
Lunedì 02 Febbraio 2015
Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti
PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...
Martedì 13 Gennaio 2015
Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...
Martedì 16 Dicembre 2014
Siamo lieti di annunciare che il vincitore del premio Robert W. Cahn (riconoscimento organizzato dal Journal of Materials Science) come miglior pubblicazione del 2014, va al paper Mechanical...