Flange e attacchi Conflat (CF)
| Allegato | Dimensione |
|---|---|
 cf-flange-attacchi-vuoto.pdf | 1.41 MB |
Elenco Prodotti
Flange e attacchi Conflat (CF)
- Home
- Prodotti
- Film Sottili
- Microscopi per imaging sulla nanoscala
- Microscopia Digitale
- Microscopie per analisi e manipolazione di singola cellula
- Misura delle proprietà meccaniche di superfici e rivestimenti
- Misura e controllo di: vuoto, flussi massici e campi magnetici
- Nanoparticelle per la Ricerca Scientifica
- Sistemi automatizzati di riconoscimento
- Sistemi di isolamento dalle vibrazioni
- Strumenti per analisi fisico-chimiche
- Accessori e consumabili per Alto Vuoto e Ultra Alto Vuoto (UHV)
- Asta magnetica ridotta trasferimento campioni
- Asta magnetica per trasferimento campioni - Standard
- Braccio telescopico radiale
- Hardware per vuoto (attacchi, adattatori, ecc..)
- Stelo magnetico oscillante
- Port Aligners
- Passanti a movimento rotatorio
- Viewport - Finestre di controllo e Otturatori
- Valvole
- Sorgenti ultravioletto da vuoto (VUV)
- Sorgenti per Magnetron Sputtering
- Sistemi MBE (Molecular Beam Epitaxy)
- Sistemi di trasferimento del campione
- Sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto - UHV
- Passanti a movimento lineare
- Manipolatori basse temperature Helium Free - Low-Helium
- Feedthrough passanti elettrici per vuoto e ultra alto vuoto
- Evaporatori
- Componenti e Accessori UHV
- Camere e componenti
- Attrezzature plasticheria e vetreria per laboratorio
- Profilometri ottici
- Decontaminazione dell'aria su scala nanometrica
- Consumabili Software Accessori AFM/SPM/STM
- Punte AFM/SPM
- Punte Conduttive e Punte Magnetiche
- Punte sharp con singolo cristallo di diamante
- Punte AFM Metalliche Super Sharp
- Punte AFM in diamante "All-Diamond"
- MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
- Punte rivestite e rinforzate
- Punte e moduli per SThM
- Punte Silicio "Tip-View"
- Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
- Tipless Cantilever
- Punte SPM/AFM Silicio
- Cabine acustiche per strumentazione scientifica
- Strutture di Test e di Calibrazione
- Software analisi AFM
- Punte AFM/SPM
- Strumenti per bio-nanoparticelle
- Analisi di nanoparticelle
- Spin Coaters
- Applicazioni
- Analisi Ambientali
- MEMS: analisi dinamica
- Misura e Controllo di Grandezze Fisiche
- Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia
- Nanoparticelle
- Ricerca Industriale
- Scienza dei Materiali
- Scienza delle Superfici
- Partners
- Adama Innovations
- Advanced Diamond Technologies
- Affinity Biosciences
- AppNano
- Asylum Research - Oxford Instruments
- CellSorter
- Concept Scientific Instruments
- Cordouan Technologies
- Cytosurge AG
- Cytoviva
- Daeil Systems
- DeltaPix
- Emcrafts
- GBS-Ilmenau GmbH
- Genano
- Group 3 Technology
- Izon Science
- K&S Advanced Systems
- KLA
- KLM - Spin Coater
- LS Instruments
- Lyncée Tec
- Mikromasch
- Nenovision
- OCI Vacuum Microengineering
- Phasis
- RHK Technology
- Rocky Mountain Nanotechnology
- Sensofar
- Teledyne Hastings
- Testo AG
- Tomocube, Inc
- Vacseal Inc.
- nanoAnalytics
- nanoTherics
- Blog
- Chi Siamo
- Contatti
