Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
Sottocategorie
Il catalogo Schaefer riguardante i consumabili e il software per Microscopia AFM/SPM/UHV e Sistemi in UHV comprende articoli dei seguenti produttori: Applied Nanostructures (AppNano), Mikromasch, Advanced Diamond Technology (NaDia Probes), Image Metrology (Imagemet), VACSEAL. Siamo inoltre in grado di procurare prodotti di altri marchi, su richiesta.
Il range di prodotti spazia dalle punte/sonde AFM (in silicio, diamante, nitruro di silicio) di varie forme, compresi i cantilever senza sonda, strutture di test, software di imaging 3D, sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto (VACSEAL) fino alle cabine acustiche per strumentazione scientifica.
Elenco Prodotti
Altri substrati comuni
Produttore: Angstrom Engineering
Rivestimenti in Argento su slide coverslip e wafer
Produttore: Angstrom Engineering
Coatings in Oro
Produttore: Angstrom Engineering
Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
Produttore: Psylotech
Produttore:
Metallizzatori - Ion Sputter Coaters
Software analisi AFM, SEM, Profilometri
Punte sharp con singolo cristallo di diamante
Punte AFM Metalliche Super Sharp
Produttore: Rocky Mountain Nanotechnology
Strutture di Test e di Calibrazione
Produttore: AppNano
Produttore: Mikromasch
Punte e moduli per SThM
Punte SPM/AFM Silicio
Produttore: Mikromasch
Produttore:
Produttore: AppNano
Punte Conduttive e Punte Magnetiche
Produttore: Mikromasch
Punte rivestite e rinforzate
Produttore:
Produttore: AppNano
Tipless Cantilever
Substrati di Oro su Mica
Produttore: Phasis
Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
