Sistemi di controllo e modalità SPM/AFM

Sistemi di controllo e modalità SPM/AFM

Distribuiamo sistemi di controllo SPM e AFM e opzioni di misura AFM progettate, prodotte e fornite da RHK Technology e da CSI Instruments.

RHK Technology ha una lunga storia di successi nel panorama dei controller SPM. Con oltre 1.000 controller installati in tutto il mondo, RHK ha contribuito per decenni con una serie continua di nuove funzionalità avanzate nel campo delle nanotecnologie. Fin dai primi giorni di STM, passando per l'AFM a contatto, quindi con l'NC-AFM, attraverso l'utilizzo dell'elettronica digitale per arrivare a nuovi paradigmi a migliorare la facilità d'uso dell'interfaccia grafica e l'integrazione totale dell'hardware, le piattaforme di controllo RHK continuano a offrire nuove potenti funzionalità ai ricercatori di tutto il mondo.

CSInstruments ha iniziato a operare in questo campo con la modalità AFM ResiScope, che consente la caratterizzazione della superficie conduttiva. Attualmente l'offerta si è ampliata con controller e diverse nuove modalità, applicabili a molteplici applicazioni nel campo delle nanoscienze, dei materiali, della scienza delle superfici, dei polimeri, dei film sottili, dei semiconduttori, dei biomateriali, del fotovoltaico, della caratterizzazione della superficie conduttiva.