Imaging 3D

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di Imaging 3D

Martedì 24 Aprile 2018
SmartWLI compact - Interferometro a luce bianca per applicazioni in linea

La qualità e velocità della linea smartWLI è ora disponibile anche per misure su linee di produzione. Grazie agli obiettivi ad alta velocità e al calcolo in tempo reale delle schede grafiche, l'interferometria in luce bianca di GBS permette risoluzioni in altezza di 0.1...

Lunedì 12 Giugno 2017
Nuove tecnologie per la misura della struttura superficiale: Confocal Fusion e Continuous Confocal - Webinar

Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...

Lunedì 27 Marzo 2017
New technologies for 3D surface metrology - Confocal Fusion and Continuous Confocal

La Confocal Fusion e la Continuous Confocal sono due nuove tecnologie di acquisizione per metrologia di superficie in 3D sviluppate da Sensofar che si basano sull'esistente linea di Hardware "S". Per i sistemi della linea "S"...

Martedì 05 Aprile 2016
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale

Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

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Venerdì 08 Gennaio 2016
Buon Anno da CSI Instruments - Il Risveglio della Forza Atomica

CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!

Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...

Lunedì 26 Ottobre 2015
AAC premia Sensofar per la migliore pubblicazione

Durante l'ultimo resoconto dell'Aluminum Anodizers Annual Conference & Exhibition (Pittsburgh, 2014), l'articolo presentato da Sensofar dal titolo "Using optical areal measurement methods to assess the surface shape and texture on aluminium anodized surfaces" ha ricevuto il premio Robert L....

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Lunedì 02 Febbraio 2015
PanScan Freedom-LT - RHK Technology

Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti

PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...