Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Venerdì 22 Marzo 2019

Nenovision Litescope AFM-in-SEM

Scopri le potenzialità del Nenovision AFM LiteScope™ 

  • AFM progettato in maniera specifica per una facile integrazione con il SEM
  • Un'ampia gamma di applicazioni nel campo delle Scienze dei Materiali e delle Nanotecnologie, Industria dei Semiconduttori e...

Mercoledì 20 Marzo 2019

Tomocube HT-2H - Strumento per olotomografia

Il video riprende una fase di apoptosi indotta da TNFα. Le cellule di NIH3T3 sono state riprese dal vivo e in continuo con un HT-2H. I tomogrammi 3D sono stati raccolti ogni 5 minuti per un massimo di 2 ore.

Martedì 19 Marzo 2019

Webinar Gratuito - Controller SPM R9plus da RHK Technology

Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...

Venerdì 15 Marzo 2019

Nuovo microscopio AFM Jupiter XR Large-Sample di Asylum Research

Schaefer Italia annuncia l'uscita del nuovo microscopio a forza atomica (AFM) Jupiter XR, il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni, in grado di offrire sia un imaging ad alta velocità che un range esteso, tutto in un singolo scanner....

Lunedì 18 Febbraio 2019

Nuovo Profilometro Ottico 3D S neox Sensofar

Schaefer Italia è lieta di annunciare  il lancio da parte di Sensofar Metrology della quinta generazione del loro profilometro ottico di punta. L'S neox è un sistema di microscopia completo per profilometria ottica 3D a non contatto dalle altissime prestazioni, progettato...

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