Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Mercoledì 04 Marzo 2015

Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Martedì 10 Febbraio 2015

RHK TERS Tip Enhanced Raman Spectroscopy

RHK Technology è leader della tecnologia della Microscopia a Scansione di Sonda fin dall'introduzione del suo primo sistema di controllo STM, nel 1988.  Centinaia di gruppi di ricerca nel mondo si affidano ai prodotti innovativi di RHK per raggiungere i propri...

Lunedì 02 Febbraio 2015

PanScan Freedom-LT - RHK Technology

Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti

PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...

Martedì 13 Gennaio 2015

Punte AFM interamente in diamante - Promo su scatole con due campion

Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...

Martedì 16 Dicembre 2014

La pubblicazione che ha vinto il Premio Robert W. Cahn per il 2014

Siamo lieti di annunciare che il vincitore del premio Robert W. Cahn (riconoscimento organizzato dal Journal of Materials Science) come miglior pubblicazione del 2014, va al paper Mechanical...

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