Oxford NanoAnalysis
Providing leading-edge tools for SEM, TEM & FIB
Oxford Instruments NanoAnalysis fornisce strumenti all'avanguardia che consentono la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica.
Utilizzati con microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fascio ionico (FIB), gli strumenti OIN sono utilizzati per la ricerca e lo sviluppo in un'ampia gamma di applicazioni accademiche e industriali tra cui:
- semiconduttori
- energie rinnovabili
- estrazione mineraria
- metallurgia
- medicina legale