SPIP™6 di Image Metrology, lo standard nell'elaborazione di immagini su scala nanometrica, è disponibile per il download, anche nella trial version.
Alcune delle principali nuove caratteristiche:
Interfaccia completamente basata su Ribbons
Avrete a disposizione tutte le voci e le sezioni principali del programma, in una sola visualizzazione con multiple tab, detta comunemente Ribbons (simile all'interfaccia del pacchetto Office dal 2007 in poi). Meno tempo perso cliccando e cercando la funzione desiderata, più tempo per l'analisi dei dati!
Windows 7
Potete far girare SPIP™ in qualità di utente normale, senza dovervi preoccupare di avere i diritti di amministratore sulla macchina per Windows 7/Vista/XP
Menu di avvio veloce disponibile
Riducete i tempi di attesa lanciando i nuovi comandi di avvio veloce, per controllare rugosità, filtri di riduzione disturbo, scale di colori
Avvio Veloce di Settaggi Customizzati
Personalizzate SPIP™ aggiungendo i vostri comandi, filtri, e settaggi, al Menu di Avvio Veloce
Nuova finestra di Profilo
Risparmiate spazio sul vostro schermo con la nuova visualizzazione del profilo, con la quale potete passare dalla Analisi del singolo Profilo alla visualizzazione comparativa di più profili. Potete anche confrontare profili da diverse sorgenti di dati, con la nuova finestra di Comparazione Globale
Nuovo Zoom e navigazione In-Window
“Guarda più da vicino” con la nuova funzionalità di zoom interattivo in-window, con funzioni di navigazione in overlay, che aiutano a gestire meglio lo spazio dello schermo, visto che non avrete più bisogno di una finestra separata per lo zoom.
Finestre strumenti fluttuanti - Floating Toolbars
Spostate la vostra bassa strumenti dove più vi fa comodo. Semplicemente richiamate con il tasto destro la nuova barra strumenti, senza abbandonare la finestra di lavoro
Nuovi e migliorati strumenti di Misurazione e Selezione
Utilizzate più strumenti contemporaneamente. Tutti gli strumenti di misurazione, nella nuova versione, possono coesistere. Gli strumenti per la misurazione dell'angolo di contatto, la selezione della trasformata di Fourier, la selezione di un'unità di cella, e il contrassegno delle Aree di Interesse (AOI) sono stati migliorati.
Nuove opzioni sui file aperti
Per avere il totale controllo su come vengono aperte nuove finestre quando lavorate con SPIP™ e su quali operazioni sono applicate in maniera automatica.
Image Metrology rilascia SPIP™6
SPIP™6 di Image Metrology, lo standard nell'elaborazione di immagini su scala nanometrica, è disponibile per il download, anche nella trial version.
Alcune delle principali nuove caratteristiche:
Avrete a disposizione tutte le voci e le sezioni principali del programma, in una sola visualizzazione con multiple tab, detta comunemente Ribbons (simile all'interfaccia del pacchetto Office dal 2007 in poi). Meno tempo perso cliccando e cercando la funzione desiderata, più tempo per l'analisi dei dati!
Potete far girare SPIP™ in qualità di utente normale, senza dovervi preoccupare di avere i diritti di amministratore sulla macchina per Windows 7/Vista/XP
Riducete i tempi di attesa lanciando i nuovi comandi di avvio veloce, per controllare rugosità, filtri di riduzione disturbo, scale di colori
Personalizzate SPIP™ aggiungendo i vostri comandi, filtri, e settaggi, al Menu di Avvio Veloce
Risparmiate spazio sul vostro schermo con la nuova visualizzazione del profilo, con la quale potete passare dalla Analisi del singolo Profilo alla visualizzazione comparativa di più profili. Potete anche confrontare profili da diverse sorgenti di dati, con la nuova finestra di Comparazione Globale
“Guarda più da vicino” con la nuova funzionalità di zoom interattivo in-window, con funzioni di navigazione in overlay, che aiutano a gestire meglio lo spazio dello schermo, visto che non avrete più bisogno di una finestra separata per lo zoom.
Spostate la vostra bassa strumenti dove più vi fa comodo. Semplicemente richiamate con il tasto destro la nuova barra strumenti, senza abbandonare la finestra di lavoro
Utilizzate più strumenti contemporaneamente. Tutti gli strumenti di misurazione, nella nuova versione, possono coesistere. Gli strumenti per la misurazione dell'angolo di contatto, la selezione della trasformata di Fourier, la selezione di un'unità di cella, e il contrassegno delle Aree di Interesse (AOI) sono stati migliorati.
Per avere il totale controllo su come vengono aperte nuove finestre quando lavorate con SPIP™ e su quali operazioni sono applicate in maniera automatica.