Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023
Due orari disponibili
Scopri come il tuo vecchio AFM...
Scientific EquipmentIl Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
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Sabato 05 Settembre 2026
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D
Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle...
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D -
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
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Domenica 23 Agosto 2026
Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
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Venerdì 07 Agosto 2026
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube -
Lunedì 03 Agosto 2026
Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Il 1° settembre 2026 un'esclusiva anteprima online svelerà l'ultima innovazione di Sensofar nella metrologia ottica 3D
...Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Mercoledì 22 Marzo 2023
AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!
Mercoledì 15 Marzo 2023
Di cosa si discuterà:
La microscopia iperspettrale enhanced a campo oscuro consente l'imaging label-free di nanoparticelle in un'ampia gamma di matrici ambientali, tra cui cellule vive, tessuti e interi organismi animali.
In questo webinar...
Martedì 14 Marzo 2023
LANCIO DI UN NUOVO PRODOTTO
A partire da un'accurata misurazione delle dimensioni di nanoparticelle, a qualsiasi concentrazione, fino alla caratterizzazione di aggregati altamente sensibili, o per altre applicazioni come la viscometria...
Giovedì 09 Marzo 2023
RHK è in Europa! Potete visitare lo stand del nostro partner alle seguenti conferenze:
- German Physics Conference (DPG) a Dresda
28-30 marzo 2023 - Settore espositivo A - Stand 76, 77 e 78 - French Local Probe Microscopy Forum (Forum des...
Mercoledì 08 Febbraio 2023
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...