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Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D

Evento/Congresso/Workshop

da Domenica 06 Settembre 2026 - 16:00 a Martedì 08 Settembre 2026 - 17:00

Schaefer SEE ad AITeM 2026 a Udine con gli strumenti Semplor NANOS, NANOS EBSD, ONYX e Sensofar S neox 6

Data di pubblicazione:

Sabato 05 Settembre 2026

Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle superfici.

I visitatori potranno vedere il SEM da banco Semplor NANOS e ricevere informazioni in anteprima sul nuovo profilometro ottico 3D S neox 6 di Sensofar. L’evento offrirà inoltre l’opportunità di scoprire altre due novità Semplor: ONYX, il SEM da banco con il più grande stage portacampioni della categoria, e la nuova configurazione NANOS con funzionalità EBSD integrate.

Incontriamoci ad AITeM 2026!

Il sito di AITEM

NANOS: microscopia elettronica ad alta risoluzione accessibile a tutti

SEM da banco compatto Semplor NANOS per imaging ad alta risoluzione e analisi elementare EDS

Compatto, robusto e progettato per rendere la microscopia elettronica a scansione più accessibile, NANOS combina immagini SEM ad alta risoluzione con l’analisi elementare EDS integrata.

Lo strumento offre una risoluzione inferiore a 8 nm e ingrandimenti fino a 200.000×. Le modalità operative ad alto e basso vuoto permettono di analizzare un’ampia gamma di campioni conduttivi e non conduttivi. NANOS può essere installato in un normale laboratorio, senza necessità di camera bianca, infrastrutture dedicate o sistemi di isolamento dalle vibrazioni. Rappresenta quindi una soluzione ideale per la ricerca, la formazione e le applicazioni industriali.

Nuovo NANOS EBSD: dalle immagini all’analisi cristallografica

SEM da banco Semplor NANOS con EBSD integrato per l’analisi cristallografica ed elementare.

Oltre all’imaging ad alta risoluzione e all’analisi elementare EDS, il sistema fornisce informazioni cristallografiche dettagliate, tra cui l’orientamento dei cristalli, l’identificazione delle fasi e la struttura dei grani. Il tavolino eucentrico può essere inclinato fino a 70°, consentendo di passare dall’imaging SEM convenzionale alla posizione di misura EBSD mantenendo l’area di interesse centrata e a fuoco.

L’integrazione di EDS ed EBSD crea un flusso di lavoro efficiente per la caratterizzazione elementare e cristallografica complementare dei materiali.

ONYX: il SEM da banco con il più grande stage portacampioni della categoria

SEM da banco Semplor ONYX con ampio tavolino per grandi campioni e analisi ad alta produttività

Un’altra importante novità della gamma Semplor è ONYX, un SEM da banco sviluppato per campioni di grandi dimensioni e flussi di lavoro ad alta produttività.

ONYX dispone di un tavolino motorizzato da 110 × 110 mm all’interno di una camera da 220 × 220 mm. Può ospitare componenti di grandi dimensioni o più campioni in un’unica sessione, inclusi fino a 64 stub SEM da mezzo pollice. Il sistema combina immagini SE e BSE ad alta risoluzione con l’analisi elementare EDS integrata.

L’elevata capacità di carico, le funzioni per l’automazione dei flussi di lavoro e l’intuitivo software Discover rendono ONYX particolarmente adatto a laboratori industriali, attività di ricerca e sviluppo, controllo qualità e ambienti di ricerca che richiedono maggiore flessibilità e produttività

S neox 6: la nuova generazione della profilometria ottica 3D

Profilometro ottico 3D senza contatto Sensofar S neox 6 per la caratterizzazione avanzata delle superfici

Il nuovo Sensofar S neox 6 amplia le possibilità della caratterizzazione 3D delle superfici senza contatto, offrendo maggiore velocità, precisione e flessibilità.

La sua architettura multitecnologica integra diverse tecniche di misura ottica in un’unica piattaforma:

Ai Focus Variation per superfici estese, rugose e con forti pendenze
Tecnologia confocale per misure 3D ad alta risoluzione laterale
Interferometria per un’eccezionale risoluzione in altezza
Riflettometria spettroscopica per la misura rapida e non distruttiva di film sottili trasparenti e materiali multistrato

Rispetto alla generazione precedente, S neox 6 offre una velocità di acquisizione fino a due volte superiore. Tra le nuove funzionalità figurano il sistema tip-tilt motorizzato per un livellamento automatico più rapido, una corsa motorizzata lungo l’asse Z di 100 mm, la messa a fuoco automatica diretta e funzioni di automazione avanzate.

S neox 6 è progettato per applicazioni complesse nei settori dei semiconduttori e del packaging avanzato, della produzione di precisione, dell’aerospazio, dei dispositivi medicali, della fotonica e dell’ingegneria delle superfici.