I prodotti distribuiti da Schaefer SEE Srl
Sonde AFM per carichi meccanici elevati e applicazioni di scratch testing
Punta AFM allungata di forma cilindrica (high aspect ratio) in diamante a cristallo singolo
3 in 1 - Analizzatore di dimensione e potenziale Zeta di nanoparticelle in sospensione
Misure quantitative reali di resistenza/corrente con modalità a contatto intermittente su materiali morbidi