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Il ResiScope II è un sistema unico in grado di misurare la resistenza AFM nell'arco di 10 decadi con alta sensibilità e risoluzione. Può essere combinato con diverse modalità dinamiche come MFM / EFM (modalità AC / MAC) o KFM single-pass (AC / MAC III) fornendo caratterizzazioni del campione differenti sulla stessa area di scansione.
La misurazione viene effettuata applicando una polarizzazione DC tra il campione e una sonda AFM conduttiva (punta a massa virtuale). La punta esegue la scansione in modalità contatto utilizzando la deflessione laser per il feedback AFM. Come misura indipendente, ResiScope II misura la resistenza del campione attraverso l'amplificatore ad alte prestazioni (HPA).
Video
File
News, eventi, promo, webinar
Applicazioni
La modalità ResiscopeTM è una modalità AFM a contatto. Una punta conduttiva registra i cambiamenti di corrente e resistenza lungo una vasta gamma di valori, con un amplificatore esterno. Le curve di corrente / tensione possono essere condotte in vari punti del campione. Resistenza e conduttività vengono rilevate su oltre 10 decadi.
Il Resiscope di CSinstruments può sostituire controller datati, per esempio per pilotare vecchi AFM Agilent 5100 e 5500, grazie alle uscite in alta tensione.
Caratteristiche Tecniche
Campo di resistenza
da 10² Ω a 10^12 Ω
Range attuale (modalità ResiScope)
da 50 fA a 1 mA
Compatibilità AFM
CSInstruments: Nano-Observer
UHV: contattateci
Modalità AFM compatibile
Contatto/ Tapping / modalità AC / EFM / MFM / KFM single-pass
Sistema operativo
Windows® XP. 7, 8, 10, SP3 Framework DotNet 3.5 SP1
Una porta USB disponibile
Alimentazione
AC 100‐240V 47‐63Hz, 1A - Lo strumento deve essere correttamente messo a terra.
Peso (netto)
2kg