Nanomechanics

Queste punte AFM sono progettate in maniera specifica per elevati carichi meccanici e applicazioni di scratch testing. Tramite l'utilizzo di un diamante resistente all'usura e un ampio angolo del cono, le dimensioni del contatto sono ben caratterizzate e rimangono costanti durante ripetute misurazioni meccaniche. Queste sonde sono progettate per la nanoindentazione e inducono alti livelli di deformazione plastica che consentono di utilizzarli con l'Oliver-Pharr per misurare sia il modulo elastico che la durezza dei materiali. Queste sonde hanno dimostrato di poter generare indentazioni profonde (~ 100 nm) e altamente ripetibili nella silice fusa. L'apice della punta ad alta risoluzione consente l'imaging in situ delle indentazioni, utilizzando la stessa sonda.

 

• Altamente drogato con boro con resistività macroscopica di 0,003 - 0,005 Ohm ∙ cm
• Rivestimento reflex d'oro depositato sul lato del rivelatore del cantilever per migliorarne la riflettività