Soft ResiScope: caratterizzazione elettrica AFM su campioni morbidi
Questa modalità AFM unica e innovativa è in grado di espandere i campi di applicazione del «ResiScope II» a campioni morbidi come celle solari organiche, polimeri conduttivi o altri campioni biologici, pur mantenendo il suo ampio intervallo di misurazione (10 decadi). Il principio di Soft ResiScope si basa sul contatto intermittente.
Il principio di Soft ResiScope si basa sul contatto intermittente. La sonda AFM rimane in contatto con il campione per un breve periodo di tempo, esercitando un controllo costante della forza, che consente a ResiScope II di misurare la resistenza e la corrente nelle migliori condizioni per effettuare misurazioni quantitative. Finita la misura la punta viene retratta e viene spostata all'area successiva.
Microscopia AFM su campioni fragili - Metodo non distruttivo
Modalità Soft ResiScope VS Modalità oscillazione / contatto
Questo nuovo metodo non distruttivo denominato «soft ResiScope» è stato confrontato con la modalità di oscillazione convenzionale su un campione fragile (miscela polimerica). I risultati sono del tutto equivalenti. L'immagine qui sopra fa vedere le prime righe della scansione, misurate in modalità a oscillazione, e l'altra parte misurata in modalità soft ResiScope. È possibile notare la superficie danneggiata dalla precedente scansione effettuata in modalità contatto (quadrato blu): la superficie è stata graffiata dalla punta.
Misure quantitative reali di resistenza / corrente
Modalità ResiScope Soft e Standard
Le misurazioni quantitative di resistenza / corrente sono state validate da studi, aprono nuove prospettive per la caratterizzazione elettrica su tutti i tipi di campioni, soprattutto per campioni morbidi.
L'immagine qui sopra mostra misurazioni quantitative effettuate con Soft ResiScope. Il confronto è stato effettuato tra le misurazioni della modalità di contatto ResiScope e la modalità Soft ResiScope su campioni elettrici standard come SRAM. Il risultato non mostra alcuna differenza tra la modalità di contatto e la modalità Soft ResiScope sulla topografia e sui segnali di resistenza. Inoltre, la sezione trasversale mostra risultati identici tra le modalità Standard ResiScope e Soft ResiScope.
Soft ResiScope: caratterizzazione elettrica AFM su campioni morbidi
File
News, eventi, promo, webinar
Applicazioni
Il principio di Soft ResiScope si basa sul contatto intermittente. La sonda AFM rimane in contatto con il campione per un breve periodo di tempo, esercitando un controllo costante della forza, che consente a ResiScope II di misurare la resistenza e la corrente nelle migliori condizioni per effettuare misurazioni quantitative. Finita la misura la punta viene retratta e viene spostata all'area successiva.
Modalità Soft ResiScope VS Modalità oscillazione / contatto
Questo nuovo metodo non distruttivo denominato «soft ResiScope» è stato confrontato con la modalità di oscillazione convenzionale su un campione fragile (miscela polimerica). I risultati sono del tutto equivalenti. L'immagine qui sopra fa vedere le prime righe della scansione, misurate in modalità a oscillazione, e l'altra parte misurata in modalità soft ResiScope. È possibile notare la superficie danneggiata dalla precedente scansione effettuata in modalità contatto (quadrato blu): la superficie è stata graffiata dalla punta.
Caratteristiche Tecniche