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Le punte della serie ANSCM sono rivestite con Platino-Iridio su entrambi i lati per applicazioni EFM. Le punte ANSCM-PA sono da utilizzarsi per la modalità a intermittenza, le punte ANSCM-PT per la modulazione di forza, e le punte ANSCM-PC sono da utilizzarsi per le applicazioni a contatto. Le punte ANSCM-PA5 sono progettate per le applicazioni di microscopia a forza atomica conduttiva (CAFM) e hanno uno spesso rivestimento di Platino-Iridio per aumentare la durata della punta.
Applicazioni
- Electrical For Microscopy
- Conducting Atomic Force Microscopy
- Kelvin Force Microscopy
- Piezo Force Microscopy
- Scanning Capacitance Microscopy
Caratteristiche Tecniche
| Specifiche della punta | |
|---|---|
| Forma | Piramidale |
| Altezza (μm) | 14-16 |
| Rivestimento | Platino-Iridio |