Martedì 09 Luglio 2019

31 luglio 2019 - Webinar Sensofar: Soluzioni di metrologia ottica per semiconduttori e microelettronica

31 luglio 2019 - Webinar Sensofar: Soluzioni di metrologia ottica per semiconduttori e microelettronica

Partecipa a questo evento in cui Sensofar condividerà approfondimenti e consigli di esperti su argomenti chiave che affrontano la misurazione dimensionale ottica critica e l'analisi dei materiali

In questo webinar, della durata di un'ora, si discuterà dell'analisi specifica per il controllo di qualità nelle applicazioni PCB. Verrà trattato anche l'argomento delle misurazioni dimensionali critiche, della rugosità e dell'identificazione dei difetti. I presentatori Adam Platteis e Alberto Aguerri illustreranno le soluzioni relative a ISO 4287, ISO 25178 e le modalità tramite le quali il software proprietario di Sensofar identifica rapidamente profili, parametri di rugosità e difetti per struttura superficiale, altezza e tracce. L'attenzione si concentrerà su imaging di wafer, cuscinetti, gradini, legami e schede sonda.

Le soluzioni Sensofar possono essere utilizzate in laboratori di Ricerca e Sviluppo e in ambienti ad alta produttività QA / QC in linea per la segnalazione automatica Pass/Fail. Sensofar offre soluzioni standalone e personalizzabili che integrano le tecnologie confocale, interferometrica e di variazione di fuoco in un unico sensore per l'industria dei semiconduttori e della microelettronica.

Data e orario del webinar: mercoledì 31 luglio, dalle 17 alle 18

3D Optical Profiler - Engineered for SpeedQA/QC and R&D Solution
Full 3D measurement solution
Profilometro ottico 3D S Neox Five Axis
The new compact flexible and powerful 3D profiler
Sensofar S lynx - The new compact flexible and powerful 3D profiler
Figure professionali interessate dall'argomento

Questo webinar è rivolto a responsabili di R & S, tecnici di laboratorio, professionisti QA e QC, ispettori, ingegneri, integratori di processi, tecnici di wafer e chiunque sia coinvolto nell'analisi dei guasti (failure analysis) e/o nell'analisi dei materiali. I professionisti che lavorano nei settori dei semiconduttori e della microelettronica trarranno vantaggio da questo webinar, così come coloro che sono coinvolti nell'ottica di precisione, nell'archiviazione dei dati, nelle tecnologie di visualizzazione e nelle tecnologie di imaging di film e materiali.

Partecipa anche tu a questo interessante webinar!

Data e orario del webinar: mercoledì 31 luglio, dalle 17 alle 18