Schaefer parteciperà in qualità di sponsor ed espositore al Congresso CNR-IMM 2026 “BRIDGE – Boosting Research and Innovation for a Digital and Green Economy”, in...
Scientific EquipmentIl Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
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Domenica 23 Agosto 2026
Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
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Venerdì 07 Agosto 2026
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube -
Lunedì 03 Agosto 2026
Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Il 1° settembre 2026 un'esclusiva anteprima online svelerà l'ultima innovazione di Sensofar nella metrologia ottica 3D
...Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D -
Martedì 21 Luglio 2026
Isolamento di vescicole extracellulari e nanoparticelle: aumenta la produttività con l'automazione di qEV DXter – ora a un prezzo speciale
Una piattaforma di automazione ad alta produttività, progettata per aumentare capacità, riproducibilità ed efficienza nei workflow di isolamento basati su qEV.
Versatilità estesa...
Isolamento di vescicole extracellulari e nanoparticelle: aumenta la produttività con l'automazione di qEV DXter – ora a un prezzo speciale -
Giovedì 09 Luglio 2026
SEM da banco Nanos con analisi EDS integrata: aggiungere informazioni chimiche alla microscopia elettronica
Nell’analisi dei materiali, osservare la superficie di un campione è spesso solo il primo passo. Un SEM da banco consente ai laboratori di analizzare morfologia,...
SEM da banco Nanos con analisi EDS integrata: aggiungere informazioni chimiche alla microscopia elettronica
Martedì 17 Febbraio 2026
Domenica 15 Febbraio 2026
Schaefer Italia parteciperà come sponsor ufficiale alla CSEVP-2026 – Conference & School on Extracellular Vesicles and Nanoparticles, uno dei principali...
Martedì 10 Febbraio 2026
Schaefer SEE parteciperà al workshop universitario “Metrologia ottica 3D – Misura di forma e superficie per processi manifatturieri avanzati”, promosso dal Dipartimento di Ingegneria dell’Università degli Studi di Perugia....
Mercoledì 04 Febbraio 2026
Schaefer SEE Srl è lieta di annunciare la propria partecipazione come sponsor ufficiale a MecaNano GM 2026, conferenza di respiro internazionale dedicata alla meccanica dei materiali su scala nano- e micro-metrica, che si terrà dal 27 al 29 aprile...
Martedì 27 Gennaio 2026
Dalla teoria alla pratica: l'uso del SEM nello studio dei metalli
Segnaliamo il corso “Il SEM nello studio dei metalli”, organizzato dal nostro partner Tecmet presso la loro sede di Corsico...