SEE Srl partecipa alle Giornate di Dipartimento DSCTM 2026, organizzate dal Dipartimento di Scienze Chimiche e Tecnologie dei Materiali (DSCTM) del Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR), in programma dal 27 al 29 ottobre 2026 presso l'Area Territoriale di Ricerca CNR di Pisa.
L'evento, dal titolo “From Molecules to Materials: Innovative Chemistry for Shaping the Future”, rappresenta un'importante occasione di incontro e confronto tra ricercatori, esperti e professionisti impegnati nello sviluppo di nuovi materiali e tecnologie innovative.
Dalla microscopia elettronica alla caratterizzazione 3D: le nostre tecnologie
Durante le Giornate di Dipartimento, SEE sarà presente con soluzioni avanzate per l'imaging, l'analisi delle superfici e la caratterizzazione dei materiali, proponendo tecnologie complementari per lo studio delle strutture dalla microscala alla nanoscala.
In particolare, presenteremo le soluzioni dei nostri partner tecnologici:
Semplor – Microscopia elettronica a scansione (SEM): con il microscopio elettronico da banco NANOS, una soluzione compatta e versatile per l'osservazione delle microstrutture e l'analisi morfologica dei materiali.
Sensofar – Profilometria ottica 3D: con il sistema S neox, dedicato alla metrologia ottica senza contatto, alla misura della rugosità e alla caratterizzazione tridimensionale delle superfici.
NEOSCAN – Microtomografia a raggi X (micro-CT): sistemi di imaging 3D non distruttivo per lo studio delle strutture interne dei materiali, l'analisi della porosità, dei difetti e delle geometrie complesse.
Concept Scientific Instruments (CSI) – Microscopia a forza atomica (AFM): con Nano-Observer II, per l'analisi topografica delle superfici alla nanoscala e la caratterizzazione delle proprietà locali dei materiali.
Queste tecnologie offrono approcci complementari per affrontare le sfide della ricerca nei settori dei materiali avanzati, delle nanotecnologie, dei rivestimenti funzionali e dei processi produttivi innovativi.
Le Giornate DSCTM 2026 rappresentano un'importante opportunità per approfondire il contributo della chimica e della scienza dei materiali alle sfide legate alla sostenibilità, alla transizione energetica, all'economia circolare e allo sviluppo di nuove tecnologie.
Con la sua partecipazione, SEE conferma il proprio impegno nel supportare la comunità scientifica, mettendo a disposizione strumenti di analisi e caratterizzazione all'avanguardia e favorendo il confronto diretto sulle esigenze sperimentali dei ricercatori.
Vi aspettiamo a Pisa per scoprire insieme le potenzialità delle tecnologie Semplor, Sensofar, NEOSCAN e CSI e confrontarci sulle vostre applicazioni di ricerca!
Informazioni sull'evento
Evento: Giornate di Dipartimento DSCTM 2026
Date: 27–29 ottobre 2026
Sede: Area Territoriale di Ricerca CNR, Via G. Moruzzi 1, Pisa
Organizzatore: CNR – Dipartimento di Scienze Chimiche e Tecnologie dei Materiali (DSCTM)
SEE alle Giornate di Dipartimento DSCTM 2026 del CNR: tecnologie avanzate per la caratterizzazione dei materiali
Evento/Congresso/Workshop
da Martedì 27 Ottobre 2026 - 12:30 a Giovedì 29 Ottobre 2026 - 15:00
Pisa | 27–29 ottobre 2026
SEE Srl partecipa alle Giornate di Dipartimento DSCTM 2026, organizzate dal Dipartimento di Scienze Chimiche e Tecnologie dei Materiali (DSCTM) del Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR), in programma dal 27 al 29 ottobre 2026 presso l'Area Territoriale di Ricerca CNR di Pisa.
L'evento, dal titolo “From Molecules to Materials: Innovative Chemistry for Shaping the Future”, rappresenta un'importante occasione di incontro e confronto tra ricercatori, esperti e professionisti impegnati nello sviluppo di nuovi materiali e tecnologie innovative.
Dalla microscopia elettronica alla caratterizzazione 3D: le nostre tecnologie
Durante le Giornate di Dipartimento, SEE sarà presente con soluzioni avanzate per l'imaging, l'analisi delle superfici e la caratterizzazione dei materiali, proponendo tecnologie complementari per lo studio delle strutture dalla microscala alla nanoscala.
In particolare, presenteremo le soluzioni dei nostri partner tecnologici:
Semplor – Microscopia elettronica a scansione (SEM): con il microscopio elettronico da banco NANOS, una soluzione compatta e versatile per l'osservazione delle microstrutture e l'analisi morfologica dei materiali.
Sensofar – Profilometria ottica 3D: con il sistema S neox, dedicato alla metrologia ottica senza contatto, alla misura della rugosità e alla caratterizzazione tridimensionale delle superfici.
NEOSCAN – Microtomografia a raggi X (micro-CT): sistemi di imaging 3D non distruttivo per lo studio delle strutture interne dei materiali, l'analisi della porosità, dei difetti e delle geometrie complesse.
Concept Scientific Instruments (CSI) – Microscopia a forza atomica (AFM): con Nano-Observer II, per l'analisi topografica delle superfici alla nanoscala e la caratterizzazione delle proprietà locali dei materiali.
Queste tecnologie offrono approcci complementari per affrontare le sfide della ricerca nei settori dei materiali avanzati, delle nanotecnologie, dei rivestimenti funzionali e dei processi produttivi innovativi.
Le Giornate DSCTM 2026 rappresentano un'importante opportunità per approfondire il contributo della chimica e della scienza dei materiali alle sfide legate alla sostenibilità, alla transizione energetica, all'economia circolare e allo sviluppo di nuove tecnologie.
Con la sua partecipazione, SEE conferma il proprio impegno nel supportare la comunità scientifica, mettendo a disposizione strumenti di analisi e caratterizzazione all'avanguardia e favorendo il confronto diretto sulle esigenze sperimentali dei ricercatori.
Vi aspettiamo a Pisa per scoprire insieme le potenzialità delle tecnologie Semplor, Sensofar, NEOSCAN e CSI e confrontarci sulle vostre applicazioni di ricerca!
Informazioni sull'evento
Evento: Giornate di Dipartimento DSCTM 2026
Date: 27–29 ottobre 2026
Sede: Area Territoriale di Ricerca CNR, Via G. Moruzzi 1, Pisa
Organizzatore: CNR – Dipartimento di Scienze Chimiche e Tecnologie dei Materiali (DSCTM)
Prodotti correlati
Onyx
NEOSCAN N90
S neox 6
Nano-Observer II
Partner
Concept Scientific Instruments
Neoscan
Semplor
Sensofar
Categorie correlate
SEM da banco - Microscopi elettronici a scansione
Profilometri ottici 3D
Microtomografia ai raggi X
Microscopi AFM/SPM