Schaefer è lieta di annunciare che è in arrivo l'aggiunta di output lineari al lettore di vuoto digitale DAVC. Queste uscite includono: 0-5 VDC, 0-10 VDC, e 4-20 mA. Sono disponibili unità beta da subito. Se siete interessati a ricevere una unità di test e volete contribuire...
Il Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
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Giovedì 02 Ottobre 2025
A New Dimension - Il futuro della metrologia ottica secondo Sensofar
L'appuntamento è per il 15 ottobre 2025: Sensofar organizza un evento online esclusivo — Sensofar Event 25 — con l'obiettivo di svelare la prossima evoluzione del proprio...
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Mercoledì 24 Settembre 2025
Symposium EVIta a Favignana: una presenza strategica con IZON
Dal 24 al 26 settembre 2025 si terrà sull'incantevole isola di Favignana il 4° Symposium EVIta, l'evento di punta della Società Italiana per le Vescicole Extracellulari...
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Lunedì 01 Settembre 2025
Schaefer e Tomocube al SINS 2025: tutto quello che bisogna sapere sull’HT-X1
Schaefer è lieta di annunciare la propria partecipazione, in qualità di sponsor, al prossimo congresso SINS – Società Italiana di Neuroscienze, che si terrà a Pisa dal 10 al 13 settembre...
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Venerdì 22 Agosto 2025
Schaefer presente a ESB 2025 a Torino - Biostampa e Biotecnologie
Schaefer parteciperà con il proprio stand all'edizione 2025 del congresso ESB – European Society of Biomaterials, che si terrà a Torino dal 7 all'11 settembre.
Durante l'... -
Venerdì 15 Agosto 2025
Schaefer al 17° Multinational Congress on Microscopy (17MCM) in Slovenia con il SEM da banco Nanos
Schaefer partecipa al 17° Multinational Congress on Microscopy (17MCM), che si terrà dal 7 al 12 settembre 2025 a Portorose, Slovenia.
In...
Mercoledì 25 Settembre 2013
La serie EQS della Hiden di sonde a quadrupolo per spettrometria di massa è stata introdotta per la misurazione di ioni esterni superficiali in un ambiente in vuoto, in maniera specifica per l'applicazione di tecnica di analisi delle superfici, la SIMS. I sistemi ora possono contare sulla...
Lunedì 02 Settembre 2013
All'inizio dell'estate Agilent ha annunciato che la modalità esclusiva SMM è ora disponibile agli utenti del modello 5500 grazie all'introduzione di un nose cone SMM universale. Le nuove e migliorate possibilità di misurazione elettrica del 5500 completano l'offerta di questo sistema AFM, al top...
Mercoledì 28 Agosto 2013
Fin dal lancio di topoStitch™ tre mesi fa, Image Metrology ha ricevuto moltissime importanti e preziose segnalazioni dagli utenti.
Dopo aver dato ascolto a scienziati ed esperti da tutto il mondo, Image Metrology ha subito iniziato a codificare la nuova versione. Il 15 di Agosto è stato...
Venerdì 26 Luglio 2013
Da lunedì 23 Settembre a venerdì 27 Settembre 2013 Schaefer Italia organizza un roadshow che attraverserà tutta l'Italia, per presentare il nuovo profilometro ottico 3D a non contatto della Sensofar S Neox.
Sarà presente il tecnico Alberto Aguerri della...