Schaefer SEE al Congresso congiunto SGI–SIMP 2026 di Padova

Evento/Congresso/Workshop

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da Martedì 15 Settembre 2026 - 09:00 a Giovedì 17 Settembre 2026 - 18:30

Schaefer SEE al congresso SGI-SIMP 2026 di Padova con il SEM da banco ONYX, il profilometro ottico S neox 6, il tribometro MFT-5000, lo scanner micro-CT N70 e il microscopio AFM Nano-Observer II.
Data di pubblicazione: 
Giovedì 10 Settembre 2026

15–17 settembre 2026 | Padova Congress, Padova, Italia

Schaefer SEE è lieta di partecipare in qualità di sponsor ed espositore a Ter(r)ra: Risorse, Rischi, Rispetto, il Congresso congiunto 2026 della Società Geologica Italiana (SGI) e della Società Italiana di Mineralogia e Petrologia (SIMP).

In programma al Padova Congress dal 15 al 17 settembre, l’evento riunirà ricercatori, professionisti e studenti per confrontarsi sulle risorse della Terra, sui rischi geologici e ambientali e sulla gestione responsabile del nostro pianeta.

Dalle sfide delle geoscienze ai dati di misura

Il programma del congresso evidenzia la crescente importanza dei metodi avanzati di laboratorio per mettere in relazione osservazioni condotte a scale diverse: dai grani minerali e dalle caratteristiche superficiali fino a fratture, pori e interi volumi tridimensionali dei campioni.

Numerosi temi scientifici affrontati nelle sessioni trovano una corrispondenza diretta nelle capacità analitiche delle soluzioni proposte da Schaefer SEE:

  • Meccanica delle rocce e processi nelle zone di faglia: attrito, usura, resistenza allo scratch e danneggiamento superficiale possono essere studiati con il tribometro multifunzione Rtec Instruments MFT-5000, che combina prove meccaniche e profilometria 3D in linea. Una soluzione particolarmente rilevante per la ricerca sulla meccanica delle faglie, la deformazione, la localizzazione della deformazione e l’eterogeneità meccanica delle rocce.

  • Microporosità e reti di fratture: il sistema micro-CT da banco NeoScan N70 consente di ricostruire in modo non distruttivo la struttura interna del campione, analizzando porosità connessa, geometria, densità e orientamento delle fratture senza sezionare il materiale.

  • Minerali, geomateriali, malte e cementi: i microscopi elettronici a scansione da banco Semplor con EDS integrato (Onyx, Nanos e Nanos EBSD) offrono imaging ad alta risoluzione, spettri puntuali e mappe elementari. Queste funzionalità supportano lo studio della morfologia delle fasi, degli aggregati, dei leganti, dei materiali da costruzione e dei geomateriali derivati da rifiuti.

  • Topografia superficiale e rugosità delle fratture: il profilometro ottico 3D Sensofar S neox misura senza contatto superfici di frattura, faccette di usura e tracce di lavorazione. Combina microscopia confocale, interferometria e Ai Focus Variation, restituendo dati topografici 3D e parametri di tessitura conformi alla norma ISO 25178.

  • Proprietà alla nanoscala: il microscopio AFM CSI Instruments Nano-Observer II permette la caratterizzazione topografica, meccanica ed elettrica alla nanoscala, includendo spettroscopia di forza, nanoindentazione, microscopia a forza laterale, misure di resistività e mappatura del potenziale superficiale.

  • Paleontologia e patrimonio culturale: profilometria 3D senza contatto, imaging SEM e micro-CT consentono di analizzare la morfologia di microfossili, materiali archeologici e superfici lavorate, riducendo la preparazione del campione e contribuendo alla conservazione dei reperti di valore.

Questi punti di incontro emergono in tutto il programma scientifico, in particolare nelle sessioni dedicate a strutture e meccanica delle zone di faglia (S9), geomateriali derivati da rifiuti e riutilizzo circolare (S22), applicazioni sostenibili dei geomateriali (S23), materiali del patrimonio archeologico (S31) e archivi sedimentari e biotici del passato profondo della Terra (S40).

Incontriamoci a Padova!

Visitate l’area espositiva Schaefer SEE per confrontarvi con i nostri specialisti sui vostri campioni e sulle vostre esigenze analitiche. Vi aiuteremo a individuare la tecnica, o la combinazione di tecniche, più adatta per trasformare una domanda geologica in dati quantitativi affidabili.

Offriamo inoltre la possibilità di organizzare una misura dimostrativa gratuita su un vostro campione.

Congresso congiunto SGI–SIMP 2026
15–17 settembre 2026
Padova Congress
Via N. Tommaseo 59, Padova, Italia

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