Nuove funzionalità del software Lyncée Tec

Sample Topography
Data di pubblicazione: 
Giovedì 09 Febbraio 2012

Lynvée Tec, la casa svizzera che produce microscopi nanometrici 3D, distribuiti da Schaefer SEE Srl, ha presentato a Parigi, alla Conferenza IEEE MEMS 2012 di inizio febbraio, le novità per l'anno nuovo, che riguardano in larga parte il software.

Queste le nuove caratteristiche che hanno potenziato ulteriormente il software di acquisizione degli strumenti Lyncée Tec:

  • intervalli configurabili tra i punti campionati, in modo da poter rendere il campionamento più fitto in corrispondenza del massimo spostamento verticale
  • caratterizzazione sia statica che dinamica, nel piano orizzontale, e nel piano verticale, simultaneamente, fornita da un unico strumento integrato, ad una elevatissima velocità di acquisizione, senza influenze dall'ambiente esterno.
  • misurazioni su scala nanometrica, micrometrica e millimetrica, sia in caratterizzazione statica che in caratterizzazione dinamica.
  • strumento integrato ed unico, con caratteristiche complessive irraggiungibili da alcuna tecnica di misura confocale, interferoemtrica od AFM
  • abilità di caratterizzazione dinamica nel range sia dei KHz, che dei MHz, grazie al modulo di illuminazione stroboscopica in gardo di congelare il movimento con pulsazioni fino a 7,5ns
  • misura di movimento verticale in full-field, impossibile da realizzarsi con vibrometri laser, tecnica idonea anche alla misura del movimento dentro ambienti liquidi o dentro un packaging trasparente
  • lo strumento più completo per la caratterizzazione sia statica che dinamica dei MEMS

Se desiderate una dimostrazione presso la Vostra struttura, della strumentazione Lyncée Tec e delle nuove caratteristiche del software di analisi, contattateci.