Webinar Live: 16 ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST
Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...
Scientific EquipmentIl Blog di Schaefer
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Ultime News
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Sabato 05 Settembre 2026
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D
Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle...
Schaefer SEE ad AITEM 2026: soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e la metrologia ottica 3D -
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE e Izon Science al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
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Domenica 23 Agosto 2026
Preparazione del campione e osservazione SEM, in una soluzione compatta e completa
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
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Venerdì 07 Agosto 2026
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
TomoAnalysis 2.0: nuovi tutorial per l’analisi 3D label-free con la microscopia olotomografica Tomocube -
Lunedì 03 Agosto 2026
Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Il 1° settembre 2026 un'esclusiva anteprima online svelerà l'ultima innovazione di Sensofar nella metrologia ottica 3D
...Sensofar Event 2026: “Redefining the Metrology Experience” – La nuova evoluzione della metrologia ottica 3D
Giovedì 03 Ottobre 2019
Lunedì 23 Settembre 2019
I nuovi substrati:
- C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
- D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
Sabato 14 Settembre 2019
Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...
Martedì 10 Settembre 2019
Misura del vuoto accurata con I/O adattabile e display a colori opzionale
Teledyne Hastings Instruments, leader mondiale nella strumentazione per la misura del vuoto e nei misuratori di portata di massa termica e nei regolatori di...
Giovedì 22 Agosto 2019
Il controllo delle vibrazioni meccaniche è di fondamentale importanza in tutti quei processi in cui si richiede la massima precisione. Gli esempi più ovvi sono i molteplici campi della microscopia/imaging in cui la risoluzione ottenibile è limitata dal rumore (RMS noise), che ha...