Scientific Equipment
Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.
Sabato 05 Settembre 2026
Schaefer SEE Srl parteciperà ad AITeM 2026, presentando soluzioni avanzate per la caratterizzazione dei materiali, la microscopia elettronica e la metrologia delle...
Venerdì 28 Agosto 2026
Schaefer SEE è lieta di annunciare la propria partecipazione, insieme al partner Izon Science, al III Congresso Nazionale della Rete Italiana Core Facilities, in programma il 3–4...
Domenica 23 Agosto 2026
Il G5 Ion Sputter Coater di GSEM è uno strumento di dimensioni contenute, semplice da utilizzare ed economico, per la preparazione dei campioni destinati all'analisi SEM...
Venerdì 07 Agosto 2026
Siamo lieti di presentare la nuova serie di video tutorial dedicati a TomoAnalysis, realizzata per aiutare gli utenti a sfruttare al meglio i dati di imaging acquisiti con i...
Lunedì 03 Agosto 2026
Schaefer e Cordouan Technologies sono lieti di informarvi che il giorno 13 dicembre 2019 verrà ufficialmente presentato in Italia Amerigo, il nuovo strumento 3 in 1 della casa francese, per la misurazione di nanoparticelle in sospensione.
Amerigo è in grado di effettuare...
La nanosiringa FluidFM è stata lanciata ufficialmente da Cytosurge pochi giorni fa, e va ad arricchire l'offerta tecnologica e scientifica della casa svizzera.
Questa sonda, che può essere adoperata con il...
Il valore di attrito superficiale estremamente basso del grafene e di altri materiali 2D offre interessanti possibilità di utilizzo degli stessi in qualità di lubrificanti nano-sottili per applicazioni su dispositivi MEMS e NEMS di prossima generazione. La possibilità di controllare attivamente...
Il 2019 marca il 75 ° anniversario di Hastings Instruments. Perciò l'azienda americana, produttrice leader di misuratori e sensori per il vuoto e di ...
Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...