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Pubblicato il catalogo AppNano - Punte per microscopia AFM e SPM
È online il catalogo delle punte per microscopia a forza atomica e microscopia a scansione di sonda. Prodotti di altissima qualità, accessori e consumabili per le più svariate tipologie di strumenti, tra le quali anche quelle distribuite da Schaefer. AppNano costruisce punte completamente compatibili con i sistemi Agilent Technologies. Sono disponibili anche versioni customizzate. Contattateci per farci sapere quali sono le vostre necessità di personalizzazione.
Il catalogo AppNano