- Home
- Prodotti
- Profilometri ottici
- Microtomografia ai raggi X
- Microscopi per imaging sulla nanoscala
- Microscopie per analisi e manipolazione di singola cellula
- Microonde e Radiofrequenze
- Microscopia Digitale
- Strumenti per bio-nanoparticelle
- Sistemi di isolamento dalle vibrazioni
- Accessori e consumabili per Alto Vuoto e Ultra Alto Vuoto (UHV)
- Asta magnetica ridotta trasferimento campioni
- Asta magnetica per trasferimento campioni - Standard
- Braccio telescopico radiale
- Hardware per vuoto (attacchi, adattatori, ecc..)
- Stelo magnetico oscillante
- Port Aligners
- Passanti a movimento rotatorio
- Viewport - Finestre di controllo e Otturatori
- Valvole
- Sorgenti ultravioletto da vuoto (VUV)
- Sorgenti per Magnetron Sputtering
- Sistemi MBE (Molecular Beam Epitaxy)
- Sistemi di trasferimento del campione
- Sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto - UHV
- Passanti a movimento lineare
- Manipolatori basse temperature Helium Free - Low-Helium
- Feedthrough passanti elettrici per vuoto e ultra alto vuoto
- Evaporatori
- Componenti e Accessori UHV
- Camere e componenti
- Sistemi automatizzati di riconoscimento
- Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
- Accessori e consumabili SEM
- Punte AFM/SPM
- Punte Conduttive e Punte Magnetiche
- Punte sharp con singolo cristallo di diamante
- Punte AFM Metalliche Super Sharp
- MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
- Punte rivestite e rinforzate
- Punte e moduli per SThM
- Punte Silicio "Tip-View"
- Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
- Tipless Cantilever
- Punte SPM/AFM Silicio
- Strutture di Test e di Calibrazione
- Software analisi AFM, SEM, Profilometri
- Analisi di nanoparticelle
- Film Sottili
- Misura e controllo di: vuoto, flussi massici e campi magnetici
- Nanoparticelle per la Ricerca Scientifica
- Spin Coaters
- Strumenti per analisi fisico-chimiche
- Attrezzature plasticheria e vetreria per laboratorio
- Spettrofotometri per il colore
- Applicazioni
- Analisi Ambientali
- MEMS: analisi dinamica
- Misura e Controllo di Grandezze Fisiche
- Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia
- Nanoparticelle
- Ricerca Industriale
- Scienza dei Materiali
- Scienza delle Superfici
- Partners
- Adama Innovations
- Affinity Biosciences
- AppNano
- CellSorter
- Concept Scientific Instruments
- Cordouan Technologies
- Cytoviva
- Daeil Systems
- DeltaPix
- Digital Surf
- GBS-Ilmenau GmbH
- Group 3 Technology
- Izon Science
- K&S Advanced Systems
- KLA Instruments
- KLM - Spin Coater
- LS Instruments
- Lyncée Tec
- Mikromasch
- Neoscan
- OCI Vacuum Microengineering
- Oxford NanoAnalysis
- Phasis
- Phe-nx
- RHK Technology
- Rocky Mountain Nanotechnology
- Sairem
- Sensofar
- Teledyne Hastings
- Testo AG
- Tomocube, Inc
- Vacseal Inc.
- X-rite
- nanoAnalytics
- nanoTherics
- Blog
- Chi Siamo
- Contatti
Warren Oliver a Roma - 9 Ottobre 2014 - Nanomechanics, Inc. - 1° User Meeting Europeo
La Nanomechanics, Inc. invita le persone interessate a prendere parte al Primo User Meeting Europeo il 9 Ottobre 2014 presso l'Università di Roma "Roma Tre". L'evento si terrà presso il Dipartimento di Ingegneria di Roma TRE, in via Vito Volterra 62, Roma, il 9 Ottobre 2014.
Il dottor Warren C. Oliver (Presidente della Nanomechanics. Inc) presenterà una panoramica dei più recenti progressi ottenuti nel settore della Nanoindentazione applicata a materiali avanzati e microdispositivi, con particolare fuoco sulle nuove strumentazioni recentemente sviluppate e sui test sperimentali in-situ.
Il simposio sarà suddiviso in una sessione mattutina di presentazioni orali e una sessione pomeridiana con test sperimentali dimostrativa sui nuovi sistemi sviluppati e presenti presso il laboratorio interdipartimentale di microscopia elettronica (LIME) dell'università di Roma TRE: il nanoindenter iNano e l'inSEM.
Per iscriversi al Meeting Nanomechanics a Roma è necessario inviare una mail all'ing. Marco Sebastiani del Dipartimento di Ingegneria dell'Università di Roma "Roma Tre", all'indirizzo marco.sebastiani@uniroma3.it.
È possibile inoltre chiedere informazioni all'ing. Paolo Bariani a questi riferimenti:
Il meeting è fondamentalmente indirizzato a ricercatori, sia accademici che industriali, attivi nel campo della caratterizzazione meccanica di materiali avanzati e della sperimentazione su scala micro e nanometrica.
Ricercatori e studenti di dottorato possono inviare i loro abstract all'indirizzo email marco.sebastiani@uniroma3.it.
Le presentazioni orali non dovranno superare la durata massima di 15 minuti.