Il sistema Backscattered Electron and X-ray (BEX) di Oxford NanoAnalysis è uno strumento avanzato che combina l'analisi morfologica e chimica dei campioni su scala nanometrica. Utilizza elettroni retrodiffusi (BSE) per ottenere immagini ad alta risoluzione della superficie dei materiali, fornendo dettagli topografici e morfologici. Inoltre, integra la spettroscopia a raggi X (EDX), che permette di analizzare la composizione chimica del campione con alta precisione, mappando gli elementi presenti con sensibilità anche a basse concentrazioni.
Il sistema è progettato per essere compatibile con microscopi elettronici SEM e TEM, offrendo una grande versatilità nelle applicazioni. Grazie a un rivelatore BSE altamente sensibile, e a un rivelatore EDX che analizza i raggi X emessi dal campione, il sistema fornisce una visione completa sia delle caratteristiche fisiche che chimiche del campione.
Inoltre, il software incluso consente una visualizzazione e un’elaborazione avanzata dei dati, garantendo un’analisi precisa e una gestione efficiente dei risultati. Il sistema è ideale per applicazioni in materiali per batterie, nanotecnologia, minerali, semiconduttori e in ambito forense per l'analisi dei residui da sparo.
Caratteristiche Tecniche
Panoramica del Sistema:
Il sistema Backscattered Electron and X-ray (BEX) combina l'analisi ad alta risoluzione tramite elettroni retrodiffusi (BSE) con la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDX), per un'analisi completa della superficie e della composizione chimica dei campioni. Progettato per indagini a scala nanometrica, fornisce una caratterizzazione sia morfologica che chimica dei materiali con una precisione eccezionale.
Caratteristiche Principali:
-
Imaging con Elettroni Retrodiffusi (BSE):
- Immagini ad alta risoluzione della superficie per la mappatura topografica e morfologica.
- Fornisce contrasto basato su differenze di numero atomico e struttura superficiale.
- Ideale per analizzare metalli, semiconduttori, polimeri e minerali.
-
Spettroscopia a Raggi X a Dispersione di Energia (EDX):
- Analisi elementare con alta risoluzione spaziale e sensibilità.
- Rileva elementi a basse concentrazioni.
- Capace di produrre mappe elementari per analizzare la distribuzione spaziale degli elementi.
-
Sistemi di Rivelazione:
- Rivelatore BSE: Rileva gli elettroni retrodiffusi per l'imaging e la caratterizzazione superficiale.
- Rivelatore EDX: Analizza i raggi X emessi dal campione per l'analisi compositiva.
-
Compatibilità con SEM e TEM:
- Integrazione perfetta con Microscopi Elettronici a Scansione (SEM) e Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM).
- Aumenta la versatilità del sistema per applicazioni diverse.
-
Elaborazione Dati e Software:
- Visualizzazione ed elaborazione dei dati in tempo reale.
- Software avanzato per l'analisi quantitativa e qualitativa dei dati BSE e EDX.
- Supporto per mappe elementari e dati spettroscopici quantitativi.
Specifiche Tecniche:
-
Intervallo di Energia (EDX): 0-40 keV (in base alla configurazione del rivelatore).
-
Risoluzione Spaziale (BSE): Scala nanometrica per imaging ad alta risoluzione della superficie.
-
Risoluzione EDX: Fino a 128x128 pixel per la mappatura elementare.
-
Requisiti del Campione:
- Adatto a una vasta gamma di materiali: metalli, semiconduttori, polimeri, ceramiche, minerali e campioni biologici.
- Compatibile con campioni di forme e dimensioni varie, per configurazioni SEM e TEM.
-
Sistema di Vuoto:
- Sistema di vuoto integrato per un'operazione ad alte prestazioni.
- Ottimizzato per condizioni di ultra-alto vuoto tipiche nella microscopia elettronica.
-
Software:
- Interfaccia intuitiva per la visualizzazione dei dati in tempo reale.
- Identificazione automatica e manuale dei picchi per l'EDX.
- Protocolli di analisi personalizzabili e opzioni di esportazione dei dati.
Applicazioni:
- Materiali per Batterie: Analisi della microstruttura e della composizione dei materiali per tecnologie di stoccaggio energetico.
- Nanotecnologie: Caratterizzazione dei nanomateriali con alta risoluzione spaziale e chimica.
- Mineralogia e Geologia: Analisi elementare e imaging dei minerali per studi geologici.
- Ricerca nei Semiconduttori: Analisi dettagliata dei materiali semiconduttori per difetti, composizione e struttura cristallina.
- Analisi Forense: Rilevazione di residui da sparo, elementi traccia e altri campioni forensi con alta sensibilità.
- Scienza dei Materiali: Studio delle proprietà superficiali, cristallografia e comportamento dei materiali in ambienti controllati.
Vantaggi:
- Alta Sensibilità: Fornisce risultati affidabili anche per elementi traccia in materiali complessi.
- Versatilità: Ideale per la ricerca accademica e industriale in scienza dei materiali, nanotecnologia e analisi forense.
- Facilità d'Uso: Software intuitivo con strumenti avanzati per un'analisi rapida ed efficiente dei dati.
- Non Distruttivo: Adatto per l'analisi di campioni delicati e di valore senza alterarne le proprietà.
Configurazione del Sistema:
- Unità Principale: Sistema BEX integrato con piattaforme SEM/TEM.
- Unità di Rivelazione: Rivelatori BSE e EDX ad alta sensibilità.
- Suite Software: Software completo per l'analisi dei dati, visualizzazione e generazione di report.
Accessori Opzionali:
- Strumenti per la Preparazione dei Campioni: Per la preparazione e il montaggio dei campioni per un imaging ad alta risoluzione.
- Sistemi di Vuoto Specializzati: Per ambienti di ultra-alto vuoto per mantenere l'integrità dei dati.
Sintesi delle Applicazioni:
Il sistema BEX è uno strumento versatile per l'analisi superficiale e elementare ad alta precisione, ideale per ricerca sui materiali, tecnologie delle batterie, analisi dei nanomateriali, studi forensi e caratterizzazione dei semiconduttori. È progettato per essere utilizzato in laboratori di ricerca avanzata, ambienti di produzione e applicazioni industriali dove è richiesta una caratterizzazione dettagliata dei materiali.