Sonda AFM in platino-iridio con la costante elastica più bassa
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Il modello 12PtIr400B è la versione aggiornata della sonda RMN con la costante di molla più bassa, con resistenza all'usura meccanica. È molto indicata per le misurazioni AFM a contatto con applicazione di una minima forza di contatto. Queste sonde sono ideali per applicazioni C-AFM, SCM, SMM e SMIM. 12PtIr400A è la sonda indicata per le applicazioni SMM Keysight (Agilent).
- Lunghezza del sostegno della punta: 80 μm (± 25%)
- Lunghezza del cantilever: 400 µm (± 15%)
- Larghezza del cantilever: 50 µm (± 15%)
- Costante elastica: 0,6 N / m (± 40%)
- Frequenza: 6 kHz (± 30%)
- Raggio di punta standard inferiore a 20 nm
- Raggio di punta inferiore a 10 nm disponibile su richiesta - 12PtIr400B-10
- Sonde e cantilever non standard disponibili su richiesta
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Caratteristiche Tecniche
Materiale: punta della sonda in platino o platino-iridio e cantilever supportata su chip ceramico di dimensioni standard della sonda AFM, collegato a un pad d'oro conduttivo con resina epossidica conduttiva. RMN ha disponibili anche sonde senza pad di contatto dorato, per aiutare a ridurre la capacità parassita.
Le sonde su supporti di dimensioni standard hanno un numero di parte che termina con la lettera B (cioè 25Pt300B).
Le sonde progettate specificamente per lo Scanning Microwave Microscope (SMM) Keysight (Agilent) hanno la lettera A anziché la B (ovvero 12Pt400A).
Substrati aggiuntivi:
- C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
- D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip, con il retro completamente coperto d'oro (chip di dimensioni standard)
- E - Substrato, identico al substrato D, ma più sottile (spessore 5 mil)