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La punte piramidali in silicio sono caratterizzate da una elevata acuminatezza della punta estrema, e da ristretti picchi di risonanza, che le rendono ideali per immagini topografiche su AFM dinamico e per il mapping compositional. Queste punte sono disponibili in un'ampia gamma di frequenze di risonanza e costanti elastiche. Vedi le caratteristiche tecniche.
Proprietà dell'estremità
Raggio della punta ......................8 nm
Materiale della punta ................silicio
Rivestimento superficiale:
Al BS ..............................Al 30 nm
no Al ..............................nessuno
Cr-Au BS .......................Substrato Au 30 nm su substrato di Cr 20 nm
Caratteristiche Tecniche