Scientific Equipment
- Home
- Prodotti
- Profilometri ottici 3D
- Microscopi per imaging sulla nanoscala
- Microtomografia ai raggi X
- Microscopie per analisi e manipolazione di singola cellula
- Sistemi per Tribologia e Test Meccanici
- Strumenti per analisi di bio-particelle
- Accessori e consumabili per Alto Vuoto e Ultra Alto Vuoto (UHV)
- Asta magnetica per trasferimento campioni - Standard
- Asta magnetica ridotta trasferimento campioni
- Braccio telescopico radiale
- Camere e componenti
- Componenti e Accessori UHV
- Evaporatori
- Feedthrough passanti elettrici per vuoto e ultra alto vuoto
- Hardware per vuoto (attacchi, adattatori, ecc..)
- Manipolatori basse temperature Helium Free - Low-Helium
- Passanti a movimento lineare
- Passanti a movimento rotatorio
- Port Aligners
- Sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto - UHV
- Sistemi MBE (Molecular Beam Epitaxy)
- Sistemi di Pompaggio
- Sistemi di trasferimento del campione
- Sorgenti per Magnetron Sputtering
- Sorgenti ultravioletto da vuoto (VUV)
- Stelo magnetico oscillante
- Valvole
- Viewport - Finestre di controllo e Otturatori
- Analisi di nanoparticelle
- Attrezzature plasticheria e vetreria per laboratorio
- Biologia molecolare e genomica
- Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
- Accessori e consumabili SEM
- Punte AFM/SPM
- MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
- Punte AFM Metalliche Super Sharp
- Punte Conduttive e Punte Magnetiche
- Punte SPM/AFM Silicio
- Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
- Punte Silicio "Tip-View"
- Punte e moduli per SThM
- Punte rivestite e rinforzate
- Punte sharp con singolo cristallo di diamante
- Tipless Cantilever
- Software analisi AFM, SEM, Profilometri
- Strutture di Test e di Calibrazione
- Substrati con Rivestimenti
- Dispositivi per l'Ingegneria Tissutale e la Medicina Rigenerativa
- Film Sottili
- Microonde e Radiofrequenze
- Microscopia Digitale
- Misura e controllo di: vuoto, flussi massici e campi magnetici
- Nanoparticelle per la Ricerca Scientifica
- Sistemi automatizzati di riconoscimento
- Sistemi di isolamento dalle vibrazioni
- Spettrofotometri per il colore
- Spin Coaters
- Strumenti per analisi fisico-chimiche
- Applicazioni
- Analisi Ambientali
- MEMS: analisi dinamica
- Misura e Controllo di Grandezze Fisiche
- Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia
- Nanoparticelle
- Ricerca Industriale
- Scienza dei Materiali
- Scienza delle Superfici
- Polymerase Chain Reaction (PCR)
- Partners
- Rtec Instruments
- ThetaMetrisis
- Adama Innovations
- Angstrom Engineering
- AppNano
- BIONEER
- CellSorter
- Concept Scientific Instruments
- Cordouan Technologies
- Cytoviva
- Daeil Systems
- DeltaPix
- Digital Surf
- GBS-Ilmenau GmbH
- Genano
- Group 3 Technology
- ICAPPIC
- Izon Science
- K&S Advanced Systems
- KLA Instruments
- KLM - Spin Coater
- LS Instruments
- Lyncée Tec
- Mikromasch
- Naneos
- nanoTherics
- Neoscan
- OCI Vacuum Microengineering
- Oxford NanoAnalysis
- Phasis
- Prevac
- Psylotech
- Regemat
- RHK Technology
- Rocky Mountain Nanotechnology
- Sairem
- Semplor
- Sensofar
- Teledyne Hastings
- Tomocube, Inc
- Vacseal Inc.
- X-rite
- Blog
- Chi Siamo
- Contatti
Le punte in silicio della serie DPE presentano una speciale struttura di strati conduttivi, che determina un segnale elettrico più stabile con minor rumore. Una minima riduzione della risoluzione nella topografia è possibile se si usano le punte DPE, ciò è dovuto al raggio ispessito della punta.
Raggio della punta col rivestimento in Pt .................................. < 40 nm
Rivestimento completo .................................. 50 nm
Caratteristiche Tecniche